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    Failure analysis of high-density CMOS SRAMs; using realistic defect modeling and IDDQ testing
    Naik, Samir ; Agricola, Frank ; et al.
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. v10 (1993-06-01), Heft n2, S. 13-23
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
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    Empirical failure analysis and validation of fault models in CMOS VLSI circuits
    Pancholy, Ashish ; Rajski, Janusz ; et al.
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. v9 (1992-03-01), Heft n1, S. 72-83
    Online academicJournal
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    A general-purpose CMOS associative processor IC and system
    Stormon, Charles D. ; Troullinos, Nikos B. ; et al.
    In: IEEE Micro, Jg. v12 (1992-12-01), Heft n6, S. 68-78
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    A CMOS neural network for pattern association
    Walker, Mark ; Hasler, Paul ; et al.
    In: IEEE Micro, Jg. v9 (1989-10-01), Heft n5, S. 68-74
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Wafer-scale transducer arrays
    Chapman, Glenn H. ; Parameswaran, M. ; et al.
    In: Computer, Jg. v25 (1992-04-01), Heft n4, S. 50-56
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Rapid prototyping of high-speed communications chips
    Boyer, David G. ; Cordell, Robert R.
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. v8 (1991-06-01), Heft n2, S. 27-39
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Test generation for current testing
    Nigh, Phil ; Maly, Wojciech
    In: IEEE Design & Test of Computers, Jg. v7 (1990-02-01), Heft n2, S. 26-38
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
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