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  1. Tataridou, Angeliki ; Ghibaudo, Gerard ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-11-01), Heft 11, S. 4568-4572
    Online academicJournal
  2. Seo, Jae Hwa ; Yoon, Young Jun ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 39 (2018-10-01), Heft 10, S. 1552-1555
    Online academicJournal
  3. Yu, Yingtao ; Zhang, Zhen ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-08-01), Heft 8, S. 4667-4673
    Online academicJournal
  4. Patel, Y. ; Valizadeh, P.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 12 (2024), S. 338-344
    Online academicJournal
  5. Xue, Hao ; Shao, Ye ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-07-01), Heft 7, S. 3532-3536
    Online academicJournal
  6. Shin, Wonjun ; Kwon, Dongseok ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021-06-01), Heft 6, S. 863-866
    Online academicJournal
  7. Kwon, Dongseok ; Shin, Wonjun ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021-03-01), Heft 3, S. 442-445
    Online academicJournal
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
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