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    Signal and Noise Performance of a 110-nm CMOS Technology for Photon Science Applications.
    Traversi, Gianluca ; Dinapoli, Roberto ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 66 (2019-04-01), Heft 4, S. 752-759
    Online academicJournal
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    Radiation Tolerance of Devices and Circuits in a 3D Technology Based on the Vertical Integration of Two 130-nm CMOS Layers.
    Re, Valerio ; Gaioni, Luigi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 60 (2013-12-01), Heft 6, S. 4526-4532
    Online academicJournal
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    Volltext
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    X-ray Performance Evaluation of the Dexela CMOS APS X-ray Detector Using Monochromatic Synchrotron Radiation in the Mammographic Energy Range.
    Konstantinidis, Anastasios C. ; Szafraniec, Magdalena B. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 60 (2013-08-22), Heft 5, S. 3969-3980
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    A High-Sensitivity Low-Power CMOS Sensor for a Future Neutron Personal Dosimeter.
    Zhang, Ying ; Hu-Guo, Christine ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 59 (2012-04-15), Heft 4, S. 1465-1471
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Charge Signal Processors in a 130 nm CMOS Technology for the Sparse Readout of Small Pitch Monolithic and Hybrid Pixel Sensors.
    Traversi, Gianluca
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 58 (2011-10-15), Heft 5, S. 2391-2400
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Mechanisms of Noise Degradation in Low Power 65 nm CMOS Transistors Exposed to Ionizing Radiation.
    Re, Valerio ; Gaioni, Luigi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 57 (2010-12-01), Heft 6, S. 3071-3077
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Comprehensive Study of Total Ionizing Dose Damage Mechanisms and Their Effects on Noise Sources in a 90 nm CMOS Technology.
    Re, Valerio ; Gaioni, Luigi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 55 (2008-12-01), Heft 6, S. 3272-3279
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Investigating Degradation Mechanisms in 130 nm and 90 nm Commercial CMOS Technologies Under Extreme Radiation Conditions.
    Ratti, Lodovico ; Gaioni, Luigi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 55 (2008-08-01), Heft 4, S. 1992-2000
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Assessment of a Low-Power 65 nm CMOS Technology for Analog Front-End Design.
    Manghisoni, Massimo ; Gaioni, Luigi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-02-20), Heft 1, S. 553-560
    Online academicJournal
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Noise Performance of 0.13 μm CMOS Technologies for Detector Front-End Applications.
    Manghisoni, Massimo ; Ratti, Lodovico ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 53 (2006-08-02), Heft 4, S. 2456-2462
    Online academicJournal
    Zugriff:
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Monolithic Pixel Sensors for Fast Silicon Vertex Trackers in a Quadruple Well CMOS Technology.
    Zucca, Stefano ; Gaioni, Luigi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 60 (2013-06-20), Heft 3, S. 2343-2351
    Online academicJournal
    Zugriff:
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Energy Resolution in CMOS SSPM Detector Coupled to an LYSO Scintillator.
    Johnson, Erik B. ; Barton, Paul ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 56 (2009-06-02), Heft 3, S. 1024-1032
    Online academicJournal
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    A Self-Triggered Column-Level ADC for CMOS Pixel Sensors in High Energy Physics.
    Zhang, Liang ; Morel, Frederic ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-06-10), Heft 3, S. 1269-1277
    Online academicJournal
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    CMOS MAPS in a Homogeneous 3D Process for Charged Particle Tracking.
    Manazza, Alessia ; Gaioni, Luigi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-02-20), Heft 1, S. 700-707
    Online academicJournal
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Shaper Design in CMOS for High Dynamic Range.
    De Geronimo, Gianluigi ; Li, Shaorui
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 58 (2011-10-15), Heft 5, S. 2382-2390
    Online academicJournal
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    A 32 kb Macro with 8T Soft Error Robust, SRAM Cell in 65-nm CMOS.
    Shah, Jaspal Singh ; Nairn, David ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 62 (2015-06-20), Heft 3c, S. 1367-1374
    Online academicJournal
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Survey of noise performances and scaling effects in deep submicrometer CMOS devices from different foundries.
    Re, Valerio ; Manghisoni, Massimo ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 52 (2005-12-02), Heft 6, S. 2733-2740
    Online academicJournal
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Detection of Thermal Neutrons With a CMOS Pixel Sensor for a Future Dosemeter.
    Vanstalle, Marie ; Husson, Daniel ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 59 (2012-04-15), Heft 4, S. 1443-1447
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Characterization of Bulk Damage in CMOS MAPS With Deep N-Well Collecting Electrode.
    Zucca, Stefano ; Ratti, Lodovico ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 59 (2012-04-15), Heft 4, S. 900-908
    Online academicJournal
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Design and Characterization of CMOS Avalanche Photodiode With Charge Sensitive Preamplifier.
    Young Soo Kim ; In Sub Jun ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 55 (2008-06-02), Heft 3, S. 1376-1380
    Online academicJournal
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