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In: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, Jg. 23 (2023-09-01), Heft 3, S. 419-429Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, Jg. 22 (2022-06-01), Heft 2, S. 175-186Online academicJournalZugriff: