Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
24 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Verlag

Publikation

Sprache

24 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    75. Design for Failure Analysis in a 24 GHz Low-Noise Amplifier for Short Range Radar Applications Created in Silicon CMOS Technology
    International, ASM
    In: ISTFA™ 2017 - Conference Proceedings from the 43rd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 5-9, 2017, Pasadena Convention Center, Pasadena, California, USA; (2017)
    Online E-Book
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    16. Scanning Surface Photovoltage Microscopy (SSPVM) for Stress Analysis in Nanoscale CMOS Devices
    International, ASM
    In: ISTFA™ 2017 - Conference Proceedings from the 43rd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 5-9, 2017, Pasadena Convention Center, Pasadena, California, USA; (2017)
    Online E-Book
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    99. Experimental Demonstration of the Effects of Laser Pulse Duration on SEU and LADA in CMOS Devices
    International, ASM
    In: ISTFA™ 2016 - Conference Proceedings from the 42nd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 6-10, 2016, Fort Worth Convention Center, Fort Worth, Texas, USA; (2016)
    Online E-Book
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    38. Identification of Wet Chemical Deprocessing Induced Artifacts - A Common Problem Affecting All MOS and CMOS Technologies
    International, ASM
    In: ISTFA™ 2016 - Conference Proceedings from the 42nd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 6-10, 2016, Fort Worth Convention Center, Fort Worth, Texas, USA; (2016)
    Online E-Book
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    36.2.2 Case Study 2: FA on CMOS Defect
    International, ASM
    In: ISTFA™ 2016 - Conference Proceedings from the 42nd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 6-10, 2016, Fort Worth Convention Center, Fort Worth, Texas, USA; (2016)
    Online E-Book
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    22. Capturing Defects in Flip-Chip CMOS Devices Using Backside EBAC Technique and SEM Microscopy
    International, ASM
    In: ISTFA™ 2016 - Conference Proceedings from the 42nd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 6-10, 2016, Fort Worth Convention Center, Fort Worth, Texas, USA; (2016)
    Online E-Book
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    11. Complex Waveform Analysis for Advanced CMOS ICs
    International, ASM
    In: ISTFA™ 2016 - Conference Proceedings from the 42nd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 6-10, 2016, Fort Worth Convention Center, Fort Worth, Texas, USA; (2016)
    Online E-Book
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    11.3.2 Complex Waveforms Analysis: Common CMOS Circuits
    International, ASM
    In: ISTFA™ 2016 - Conference Proceedings from the 42nd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 6-10, 2016, Fort Worth Convention Center, Fort Worth, Texas, USA; (2016)
    Online E-Book
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    11.3.2.2 14 nm MPU CMOS- Pass-Gate/Latch Circuit Waveform Analysis
    International, ASM
    In: ISTFA™ 2016 - Conference Proceedings from the 42nd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 6-10, 2016, Fort Worth Convention Center, Fort Worth, Texas, USA; (2016)
    Online E-Book
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    71. Advanced CMOS Device Fault Isolation Using Frequency Mapping on Passive Structures
    International, ASM
    In: ISTFA™ 2013 - Conference Proceedings from the 39th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 3–7, 2013, San Jose Convention Center, San Jose, California, USA; (2013)
    Online E-Book
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    68.2.1 Bias Status at pMOSFETs in CMOS SWD
    International, ASM
    In: ISTFA™ 2013 - Conference Proceedings from the 39th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 3–7, 2013, San Jose Convention Center, San Jose, California, USA; (2013)
    Online E-Book
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    61. Electrical Modeling of the Effect of Photoelectric Laser Fault Injection on Bulk CMOS Design
    International, ASM
    In: ISTFA™ 2013 - Conference Proceedings from the 39th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 3–7, 2013, San Jose Convention Center, San Jose, California, USA; (2013)
    Online E-Book
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    57. 32nm CMOS SOI Test Site for Emission Tool Evaluation
    International, ASM
    In: ISTFA™ 2013 - Conference Proceedings from the 39th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 3–7, 2013, San Jose Convention Center, San Jose, California, USA; (2013)
    Online E-Book
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    36. SEM-Based Nanoprobing on 40, 32 and 28nm CMOS Devices Challenges for Semiconductor Failure Analysis
    International, ASM
    In: ISTFA™ 2013 - Conference Proceedings from the 39th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 3–7, 2013, San Jose Convention Center, San Jose, California, USA; (2013)
    Online E-Book
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    102. Thermal Investigations on CMOS Integrated Micro-Hot-Plates Using IR Thermography
    International, ASM
    In: ISTFA™ 2012 - Conference Proceedings from the 38th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 11–15, 2012, Phoenix Convention Center, Phoenix, Arizona, USA; (2012)
    Online E-Book
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    19. Analysis of an Anomalous Transistor Exhibiting Dual-Vt Characteristics and its Cause in a 90nm Node CMOS Technology
    International, ASM
    In: ISTFA™ 2012 - Conference Proceedings from the 38th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 11–15, 2012, Phoenix Convention Center, Phoenix, Arizona, USA; (2012)
    Online E-Book
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    39. Identification of Extension Implant Defect in Sub-Micron CMOS ICs - Analysis Technique, Model, and Solution
    International, ASM
    In: ISTFA™ 2011 - Conference Proceedings from the 37th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 13–17, 2011, San Jose Convention Center, San Jose, California, USA; (2011)
    Online E-Book
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    5.4 HAADF-STEM GPA on CMOS Device
    International, ASM
    In: ISTFA™ 2011 - Conference Proceedings from the 37th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 13–17, 2011, San Jose Convention Center, San Jose, California, USA; (2011)
    Online E-Book
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    45. Detecting Internal "ESD-Like" Damage on CMOS Gates
    International, ASM
    In: ISTFA™ 2010 - Conference Proceedings from the 36th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2010 InterContinental Hotel Dallas, Dallas, Texas, USA; (2010)
    Online E-Book
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    12. A Case Study: Observation of Counter Doping of Gate Poly and its Validation in High Density 90nm CMOS SRAM Bitcell
    International, ASM
    In: ISTFA™ 2010 - Conference Proceedings from the 36th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2010 InterContinental Hotel Dallas, Dallas, Texas, USA; (2010)
    Online E-Book
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -