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    Physics-Based Analytical Formulation of the Soft Error Rate in CMOS Circuits
    Autran, Jean-Luc ; Munteanu, Daniela ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 70 (2023-05-01), S. 782-791
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    Proton-Induced Displacement Damages in 2-D and Stacked CMOS SPADs: Study of Dark Count Rate Degradation
    Jouni, Ali ; Sicre, Mathieu ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 70 (2023-04-01), S. 515-522
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    TID and Heavy-Ion Performance of an RHBD Multichannel Digitizer in 180-nm CMOS
    Quilligan, G. ; Aslam, S.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 68 (2021-07-01), S. 1414-1422
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    Design-Stage Hardening of 65-nm CMOS Standard Cells Against Multiple Events
    Gorbunov, Maxim S. ; Galimov, Artur M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 68 (2021-08-01), S. 1712-1718
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    Dependence of Temperature and Back-Gate Bias on Single-Event Upset Induced by Heavy Ion in 0.2-μm DSOI CMOS Technology
    Han, Zhengsheng ; Zhang, Junjun ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 68 (2021-08-01), S. 1660-1667
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    Effects of Bias and Temperature on the Dose-Rate Sensitivity of 65-nm CMOS Transistors
    Michelis, Stefano ; Costanzo, Sebastiano ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 68 (2021-05-01), S. 573-580
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    Displacement Damage Characterization of CMOS Single-Photon Avalanche Diodes: Alpha-Particle and Fast-Neutron Measurements
    Malherbe, Victor ; Serge De Paoli ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 68 (2021-05-01), S. 777-784
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    Study of SEU Sensitivity of SRAM-Based Radiation Monitors in 65-nm CMOS
    Leroux, Paul ; Thys, Sam ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 68 (2021-05-01), S. 913-920
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    SIRIO: A High-Speed CMOS Charge-Sensitive Amplifier for High-Energy-Resolution X-γ Ray Spectroscopy With Semiconductor Detectors
    Mele, F. ; Bertuccio, Giuseppe ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 68 (2021-03-01), S. 379-383
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    Single-Event Effects Characterization of LC-VCO PLLs in a 28-nm CMOS Technology
    Gu, Cheng ; Patel, Maulik ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 67 (2020-09-01), S. 2042-2050
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    Shunt Regulator for the Serial Powering of the ATLAS CMOS Pixel Detector Modules
    Barrillon, P. ; Pangaud, P. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 67 (2020-02-01), S. 455-463
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    PETAL: A Multichannel Differential ADC Driver for High-Speed CMOS Image Sensors
    Grace, Carl ; Denes, Peter ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 66 (2019-06-01), S. 955-959
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    Nonstable Latchups in CMOS ICs Under Pulsed Laser Irradiation
    Chumakov, Alexander I. ; Shvetsov-Shilovskiy, I. I. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 67 (2020-07-01), S. 1540-1546
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    Proton Irradiation-Induced Random Telegraph Signal Noise in a $2\text{k}\times2\text{k}$ 4T CMOS Active Pixel Sensor: Testing, Detection, and Modeling
    Tang, Y. ; Wang, Zujian ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 66 (2019-07-01), S. 1820-1827
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    Transistor Width Effect on the Power Supply Voltage Dependence of α-SER in CMOS 6T SRAM
    Alheyasat, A. ; Torrens, G. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 67 (2020-05-01), S. 811-817
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    Single-Event Upset Responses of Metal–Oxide–Metal Capacitors and Diodes Used in Bulk 65-nm CMOS Analog Circuits
    Andeen, Timothy ; Parsons, John ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 67 (2020-04-01), S. 698-707
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    Characterization of the Total Charge and Time Duration for Single-Event Transient Voltage Pulses in a 65-nm CMOS Technology
    Li, Zheyi ; Berti, Laurent ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 69 (2022-07-01), S. 1593-1601
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    A Soft-Error Hardened by Design Microprocessor Implemented on Bulk 12-nm FinFET CMOS
    Clark, Lawrence T. ; Duvnjak, Alen ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 69 (2022-07-01), S. 1602-1609
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    Radiation Monitor Extension for CMOS Imaging Instruments in Nanosatellites
    Florczak, Josua ; Neubert, Tom ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 69 (2022-07-01), S. 1651-1658
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    Probing Dark Current Random Telegraph Signal in a Small Pitch Vertically Pinned Photodiode CMOS Image Sensor After Proton Irradiation
    Antonsanti, Aubin ; Virmontois, Cedric ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 69 (2022-07-01), S. 1506-1514
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