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    Alpha-Induced Multiple Cell Upsets in Standard and Radiation Hardened SRAMs Manufactured in a 65 nm CMOS Technology : IEEE nuclear and space radiation effects conference (NSREC '06)
    Gasiot, G. ; Giot, D. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 53 (2006), Heft 6, S. 3479-3486
    Online Konferenz
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    Digital Device Error Rate Trends in Advanced CMOS Technologies : IEEE nuclear and space radiation effects conference (NSREC '06)
    Gadlage, M. J. ; Eaton, P. H. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 53 (2006), Heft 6, S. 3466-3471
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Radiation Hardened by Design RF Circuits Implemented in 0.13 mum CMOS Technology : IEEE nuclear and space radiation effects conference (NSREC '06)
    Chen, W. ; Pouget, V. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 53 (2006), Heft 6, S. 3449-3454
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Propagating SET Characterization Technique for Digital CMOS Libraries : IEEE nuclear and space radiation effects conference (NSREC '06)
    Baze, M. P. ; Wert, J. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 53 (2006), Heft 6, S. 3472-3478
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Optimization for SEU/SET Immunity on 0.15 mum Fully Depleted CMOS/SOI Digital Logic Devices : IEEE nuclear and space radiation effects conference (NSREC '06)
    Makihara, A. ; Yamaguchi, T. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 53 (2006), Heft 6, S. 3422-3427
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
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    Crosstalk Effects Caused by Single Event Hits in Deep Sub-Micron CMOS Technologies : IEEE nuclear and space radiation effects conference (NSREC '06)
    Balasubramanian, A. ; Sternberg, A. L. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 53 (2006), Heft 6, S. 3306-3311
    Online Konferenz
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    Volltext
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    Charge Collection and Charge Sharing in a 130 nm CMOS Technology : IEEE nuclear and space radiation effects conference (NSREC '06)
    Amusan, O. A. ; Witulski, A. F. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 53 (2006), Heft 6, S. 3253-3258
    Online Konferenz
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    Volltext
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    Multiple-Bit Upset in 130 nm CMOS Technology : IEEE nuclear and space radiation effects conference (NSREC '06)
    Tipton, A. D. ; Pellish, J. A. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 53 (2006), Heft 6, S. 3259-3264
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
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    X-Ray Irradiation and Bias Effects in Fully-Depleted and Partially-Depleted SiGe HBTs Fabricated on CMOS-Compatible SOI : IEEE nuclear and space radiation effects conference (NSREC '06)
    Bellini, M. ; Jun, B. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 53 (2006), Heft 6, S. 3182-3186
    Online Konferenz
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    Volltext
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    Temperature-Dependence of Off-State Drain Leakage in X-Ray Irradiated 130 nm CMOS Devices : IEEE nuclear and space radiation effects conference (NSREC '06)
    Jun, B. ; Diestelhorst, R. M. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 53 (2006), Heft 6, S. 3203-3209
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Total-Ionizing-Dose Effects in Modern CMOS Technologies : IEEE nuclear and space radiation effects conference (NSREC '06)
    Barnaby, H. J.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 53 (2006), Heft 6, S. 3103-3121
    Online Konferenz
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    Volltext
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Noise Performance of 0.35-mum SOI CMOS Devices and Micropower Preamplifier Following 63-MeV, 1-Mrad (Si) Proton Irradiation : IEEE nuclear and space radiation effects conference; Selected papers from the 2004 IEEE nuclear and space radiation effects conference (NSREC '04)
    Binkley, D. M. ; Hopper, C. E. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 51 (2004), Heft NO 6, S. 3788-3794
    Online Konferenz
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    SEE in a 0.15 mum Fully Depleted CMOS/SOI Commercial Process : IEEE nuclear and space radiation effects conference; Selected papers from the 2004 IEEE nuclear and space radiation effects conference (NSREC '04)
    Makihara, A. ; Yamaguchi, T. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 51 (2004), Heft NO 6, S. 3621-3625
    Online Konferenz
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    Volltext
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    SET Tolerant CMOS Comparator : IEEE nuclear and space radiation effects conference; Selected papers from the 2004 IEEE nuclear and space radiation effects conference (NSREC '04)
    Mikkola, E. ; Vermeire, B. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 51 (2004), Heft NO 6, S. 3609-3614
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
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    Proton-Induced Upset in SOI CMOS SRAMS : IEEE nuclear and space radiation effects conference; Selected papers from the 2004 IEEE nuclear and space radiation effects conference (NSREC '04)
    Liu, S. T. ; Liu, H. Y. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 51 (2004), Heft NO 6, S. 3475-3479
    Online Konferenz
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    Volltext
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    Single Event Transients Characterization in SOI CMOS Comparators : IEEE nuclear and space radiation effects conference; Selected papers from the 2004 IEEE nuclear and space radiation effects conference (NSREC '04)
    Zhao, B. ; Leuciuc, A.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 51 (2004), Heft NO 6, S. 3360-3364
    Online Konferenz
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    Volltext
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