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    Comprehensive understanding of dark count mechanisms of single-photon avalanche diodes fabricated in deep sub-micron CMOS technologies
    Xu, Yux ; Xiang, Ping ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 129 (2017-03-01), S. 168-174
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    Characterization of embedded microheater of a CMOS–MEMS gravimetric sensor device
    Rabih, Almur. A. S. ; Muhammad Umer Mian ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 55 (2016-09-01), S. 179-188
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    Monitoring of thermo-mechanical stress via CMOS sensor array: Effects of warpage and tilt in flip chip thermo-compression bonding
    Laor, Ari ; Mayer, Michael ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 73 (2017-06-01), S. 60-68
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    Potentiality of healing techniques in hot-carrier damaged 28 nm FDSOI CMOS nodes
    Cacho, Florian ; Federspiel, Xavier ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 64 (2016-09-01), S. 163-167
    Online unknown
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    Surface-mountable capacitive tactile sensors with flipped CMOS-diaphragm on a flexible and stretchable bus line
    Hata, Yoshiyuki ; Yamada, Hitoshi ; et al.
    In: Sensors and Actuators A: Physical, Jg. 240 (2016-04-01), S. 167-176
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    Temperature dependent Young's modulus and quality factor of CMOS-MEMS resonator: Modelling and experimental approach
    Ashraf, Khalid ; Mohammad Tariq Jan ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 57 (2016-02-01), S. 64-70
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    Characterization of 0.18-μm CMOS MEMS Capacitive Ultrasonic Sensors for Fast Photoacoustic Imaging
    Michael S.-C. Lu ; Shih, Yi-Chia
    In: Procedia Engineering, Jg. 168 (2016), S. 713-716
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    Conservation of the Optical Properties of SRO after CMOS IC Processing
    Diaz-Mendez, A. ; Merlos, Angel ; et al.
    In: Procedia Technology, Jg. 17 (2014), S. 587-594
    Online unknown
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    The transient analysis of latch-up in CMOS transmission gate induced by laser
    Xu, Zhongjie ; Qiu, Weicheng ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 54 (2014-12-01), S. 2775-2781
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    Characterization and modeling of CMOS-compatible acoustical particle velocity sensors for applications requiring low supply voltages
    Bruschi, Paolo ; Iannaccone, Giuseppe ; et al.
    In: Sensors and Actuators A: Physical, Jg. 229 (2015-06-01), S. 192-202
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    Measured hyperbolic-sine (sinh) CMOS results: A high-order 10Hz–1kHz notch filter for 50/60Hz noise
    Ip, H.M.D. ; Katsiamis, A.G. ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 44 (2013-12-01), S. 1268-1277
    Online unknown
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Proximity gettering of slow diffuser contaminants in CMOS image sensors
    Liverani, Massimo ; Moccia, G. ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 91 (2014), S. 91-99
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    The Surface Texturing of Monocrystalline Silicon with NH4OH and Ion Implantation for Applications in Solar Cells Compatible with CMOS Technology
    José Alexandre Diniz ; Doi, I. ; et al.
    In: Energy Procedia, Jg. 44 (2014), S. 132-137
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    An equivalent doping profile for CMOS substrate characterization
    Quaresma, H.J. ; A. Cruz Serra ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 79 (2013), S. 185-191
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    A novel thermal switch and variable capacitance implement by CMOS MEMS process approaching in micro electrostatic converter
    Chiou, Jin-Chern ; Lei Chun Chou ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 77 (2012-11-01), S. 56-63
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Design of a fully CMOS compatible 3-μm size color pixel
    Langfelder, Giacomo
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 50 (2010-02-01), S. 169-173
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    CMOS-integrated Sensor chip for in-plane and out-of-plane shear stress
    Gieschke, P. ; Paul, Oliver
    In: Procedia Engineering, Jg. 5 (2010), S. 1364-1367
    Online unknown
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Barrier layer thickness analysis for reliable copper plug process in CMOS technology
    Sanjeev Kumar Manhas ; Singh, Navab ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 51 (2011-08-01), S. 1365-1371
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Managing annealing pattern effects in 45nm low power CMOS technology
    Morin, Pierre ; Beneyton, Remi ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 54 (2010-09-01), S. 897-902
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Optical and electrochemical dual-image CMOS sensor for on-chip biomolecular sensing applications
    Tokuda, Takashi ; Ohta, Jun ; et al.
    In: Sensors and Actuators A: Physical, Jg. 135 (2007-04-01), S. 315-322
    Online unknown
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