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  1. Kwok, D. T. K. ; Fu, R. K. Y. ; et al.
    In: SURFACE AND COATINGS TECHNOLOGY, Jg. 156 (2002), Heft NOS 1-3, S. 97-102
    Konferenz
  2. Yang, P. ; Huang, N. ; et al.
    In: SURFACE AND COATINGS TECHNOLOGY, Jg. 156 (2002), Heft NOS 1-3, S. 284-288
    Konferenz
  3. Chu, P. K.
    In: SURFACE AND COATINGS TECHNOLOGY, Jg. 156 (2002), Heft NOS 1-3, S. 253-257
    Konferenz
  4. Chu, P. K.
    In: SURFACE AND COATINGS TECHNOLOGY, Jg. 156 (2002), Heft NOS 1-3, S. 244-252
    Konferenz
  5. Huang, N. ; Wan, G. J. ; et al.
    In: SURFACE AND COATINGS TECHNOLOGY, Jg. 156 (2002), Heft NOS 1-3, S. 170-175
    Konferenz
  6. Wen, F. ; Dai, H. ; et al.
    In: SURFACE AND COATINGS TECHNOLOGY, Jg. 156 (2002), Heft NOS 1-3, S. 208-213
    Konferenz
  7. Kwok, D. T. K. ; Chu, P. K. ; et al.
    In: SURFACE AND COATINGS TECHNOLOGY, Jg. 136 (2001), Heft NOS 1-3, S. 146-150
    Konferenz
  8. Chu, P. K. ; Chan, C.
    In: SURFACE AND COATINGS TECHNOLOGY, Jg. 136 (2001), Heft NOS 1-3, S. 151-156
    Konferenz
  9. Ho, A. H. P. ; Kwok, D. T. K. ; et al.
    In: SURFACE AND COATINGS TECHNOLOGY, Jg. 136 (2001), Heft NOS 1-3, S. 142-145
    Konferenz
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
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