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    A general approach for high yield fabrication of CMOS-compatible all-semiconducting carbon nanotube field effect transistors
    In: Faculty Bibliography 2010s, 2012
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    CMOS RF design for reliability using adaptive gate-source biasing
    In: Faculty Bibliography 2000s, 2008
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Hot Carrier Injection Stress Effect on a 65 nm LNA at 70 GHz
    In: Faculty Bibliography 2010s, 2015
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Final Technical Report
    Vasile, Stefan ; Li, Zheng ; et al.
    2010
    report
    Wie komme ich dran?
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    Gate oxide breakdown on nMOSFET cutoff frequency and breakdown resistance
    In: Faculty Bibliography 2000s, 2005
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    HfO2 Gate Breakdown and Channel Hot Electron Effect on MOSFET Third-Order Intermodulation
    In: Faculty Bibliography 2000s, 2008
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    RF transistors: Recent developments and roadmap toward terahertz applications
    In: Faculty Bibliography 2000s, 2007
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Novel halloysite nanotube-based ultrafine CoMn2O4 catalyst for efficient degradation of pharmaceuticals through peroxymonosulfate activation
    Yang, Xue ; Wei, Gaoling ; et al.
    2022
    report
    Wie komme ich dran?
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    Performance Analysis of Compact On-Chip Operators for Cluster Feature Extraction
    Zhao, R ; Wang, J ; et al.
    In: IEEE Trans.Nucl.Sci. ; https://hal.science/hal-04381839 ; IEEE Trans.Nucl.Sci., 2023, 70 (11), pp.2420-2426. ⟨10.1109/TNS.2023.3320226⟩, 2023
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    The CDF Run IIb Silicon Detector
    Aoki, M. ; Bacchetta, N. ; et al.
    2022
    unknown
    Wie komme ich dran?
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    Experimental evaluation of hot electron reliability on differential Clapp-VCO
    In: Faculty Bibliography 2010s, 2013
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    A Simulation Study of Colpitts Oscillator Reliability and Variability
    In: Faculty Bibliography 2010s, 2012
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    The CDF Run IIb Silicon Detector
    Aoki, M. ; Bacchetta, N. ; et al.
    In: 9th Pisa Meeting on Advanced Detectors: Frontier Detectors for Frontier Physics, La Iodole, Iola delta (IT), 05/25/2003--05/31/2003, 2004
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    FINAL TECHNICAL REPORT
    STEFAN, VASILE ; ZHENG, LI
    2012
    unknown
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -