Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
11 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

11 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Simple approach for statistical modeling of process impacts on CMOS device variations in VLSI applications
    Li, Meng ; Liang, Qingqing ; et al.
    In: 2010 10th IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology, 2010-11-01, S. 1943-1945
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Integration of metallic source/drain (MSD) contacts in nanoscaled CMOS technology
    Ostling, Mikael ; Luo, Jun ; et al.
    In: 2010 10th IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology, 2010-11-01, S. 41-45
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Self-heating effects in analog Bulk and SOI CMOS circuits
    Roy, Urmimala ; Sangiorgi, Enrico ; et al.
    In: 2010 10th IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology, 2010-11-01, S. 1782-1785
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    A 12-bit 50-MS/s pipelined Analog-to-Digital Converter in 65nm CMOS
    Shu, Guanghua ; Fan, Mingjun ; et al.
    In: 2010 10th IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology, 2010-11-01, S. 563-565
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Advanced lateral power MOSFETs for power integrated circuits
    Ng, Wai Tung ; Yoo, Abraham
    In: 2010 10th IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology, 2010-11-01, S. 859-862
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Performance improvement of nc-Si nonvolatile memory by novel design of tunnel and control layer
    Qian, Xin-Ye ; Chen, Kun-Ji ; et al.
    In: 2010 10th IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology, 2010-11-01, S. 944-946
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Evaluation the layout dependences on strained 22nm NMOSFETs
    Qin, Jieyu ; Du, Gang ; et al.
    In: 2010 10th IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology, 2010-11-01, S. 1949-1951
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    The highly scalable and reliable hafnium oxide ReRAM and its future challenges
    Lien, C. H. ; Chen, Y. S. ; et al.
    In: 2010 10th IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology, 2010-11-01, S. 1084-1087
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Highly scaled block oxide bulk-MOSFETs with excellent short-channel characteristics
    Eng, Yi-Chuen ; Lin, Jyi-Tsong
    In: 2010 10th IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology, 2010-11-01, S. 914-916
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    A design of access-diode-array in phase change Random Access memory
    Li, Yi-Jin ; Song, Zhi-Tang ; et al.
    In: 2010 10th IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology, 2010-11-01, S. 1127-1129
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    The effects of vacuum spacer transistors between high performance and low stand-by power devices beyond 16nm
    Park, Jemin ; Hu, Chenming
    In: 2010 10th IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology, 2010-11-01, S. 1823-1825
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -