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In: 2008 IEEE International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT), 2008-04-01, S. 113KonferenzZugriff:
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In: 2008 IEEE International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT), 2008-04-01, S. 117KonferenzZugriff:
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In: 2008 IEEE International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT), 2008-04-01, S. 125KonferenzZugriff: