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    Analytical Modeling of Exposure Process in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors
    Gao, J. ; Gong, Y. ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 8 (2020), S. 1063-1071
    Online academicJournal
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Simulation of CMOS APS Operation and Crosstalk in SPICE With Generalized Devices
    Rossi, C. ; Sallese, J.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 8 (2020), S. 376-384
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    High Conversion-Gain Pinned-Photodiode Pump-Gate Pixels in 180-nm CMOS Process
    Chen, S. ; Ma, J. ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 5 (2017-11-01), Heft 6, S. 509-509
    Online academicJournal
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Comparison of Pinning Voltage Estimation Methods in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors
    Pelamatti, A. ; Goiffon, V. ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 4 (2016-03-01), Heft 2, S. 99-99
    Online academicJournal
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Optically Powered Energy Source in a Standard CMOS Process for Integration in Smart Dust Applications
    Liu, J.J. ; Faulkner, G. ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 2 (2014-11-01), Heft 6, S. 158-158
    Online academicJournal
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    A Review of the Pinned Photodiode for CCD and CMOS Image Sensors
    Fossum, E.R. ; Hondongwa, D.B.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 2 (2014-05-01), Heft 3, S. 33-33
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Extraction and Estimation of Pinned Photodiode Capacitance in CMOS Image Sensors
    Chao, C.Y. ; Chen, Y. ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 2 (2014-07-01), Heft 4, S. 59-59
    Online academicJournal
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    Pixel Level Characterization of Pinned Photodiode and Transfer Gate Physical Parameters in CMOS Image Sensors
    Goiffon, V. ; Estribeau, M. ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 2 (2014-07-01), Heft 4, S. 65-65
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Drift Field Implementation in Large Pinned Photodiodes for Improved Charge Transfer Speed
    Hondongwa, D.B. ; Fossum, E.R.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 6 (2018), S. 413-413
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Pixellated Perovskite Photodiode on IGZO Thin Film Transistor Backplane for Low Dose Indirect X-Ray Detection
    Zou, T. ; Xiang, B. ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 9 (2021), S. 96-101
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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