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    Efficient Any Source Capacity-Constrained Overlay Multicast in LDE-Based P2P Networks
    Maddali, Koushik ; Roy, Indranil ; et al.
    In: 2018 IEEE International Conference on Advanced Networks and Telecommunications Systems (ANTS), 2018-12-01, S. 1-5
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Testing Significance of Layout Dependent Impacts on Silicon Chips Performance
    Kakde, Sandeep ; Khan, Nadeem
    In: 2023 3rd International Conference on Intelligent Technologies (CONIT), 2023-06-23, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    LDES: a prototype array optical receiver for the Mars laser communications demonstration program
    Candell, L.M.
    In: Digest of the LEOS Summer Topical Meetings,, 2005, S. 13-14
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Capturing Layout Dependent Effects in MOSFET Circuit Sizing Using Precomputed Lookup Tables
    Mohamed, K. ; Yasseen, K.Y. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 11 (2023), S. 41205-41217
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    High Performance Full Chip Device Profiling and DOE selection for Physical and Parametric Yield Monitoring
    Lai, Ya-Chieh ; Salem, Rami ; et al.
    In: 2019 Electron Devices Technology and Manufacturing Conference (EDTM), 2019-03-01, S. 53-55
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Classification of SPN Structures From the Viewpoint of Structural Cryptanalysis
    Cui, T. ; Jin, C.
    In: IEEE Access, Jg. 6 (2018), S. 9733-9733
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Accurate Layout-Dependent Effect Model in 10 nm-Class DRAM Process Using Area-Efficient Array Test Circuits
    Kim, S. ; Yang, S. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 11 (2023), S. 70691-70697
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Implementation of Logistic Map based Differential Evolution for Channel Distribution in Cognitive Radio Networks
    Addala, Vinay Kumar ; Pasupuleti, Bhargav ; et al.
    In: 2022 Second International Conference on Advances in Electrical, Computing, Communication and Sustainable Technologies (ICAECT), 2022-04-21, S. 1-5
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    General Formula to Capture the Impact of Dummy Gates on Layout Dependent Effects Modeling of Multi-finger MOSFETs
    Xia, Kejun ; Zhang, Qilin ; et al.
    In: 2020 4th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), 2020-04-01, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Towards Reversible Dynamic Movement Primitives
    Iturrate, Inigo ; Sloth, Christoffer ; et al.
    In: 2019 IEEE/RSJ International Conference on Intelligent Robots and Systems (IROS), 2019-11-01, S. 5063-5070
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    A Data-Driven CMP Layout-Dependent Effect Modeling Methodology
    Ji, Yu ; Chen, Lan
    In: 2023 International Symposium of Electronics Design Automation (ISEDA), 2023-05-08, S. 483-485
    Konferenz
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Analysis and modeling of a MOS transistor with long gate finger for millimeter wave band applications
    Hasani, Javad Yavand
    In: 2016 24th Iranian Conference on Electrical Engineering (ICEE), 2016-05-01, S. 45-50
    Konferenz
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    A Multi-Hop QoS-Aware and Predicting Link Quality Estimation (PLQE) Routing Protocol for Reliable WBSN
    Iqbal, S. ; Ahmed, A. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 11 (2023), S. 35993-36003
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    The impact of process-induced mechanical stress on d-latch timing performance
    Sharma, Arvind Kumar ; Alam, Naushad ; et al.
    In: IMPACT-2013, Multimedia, Signal Processing and Communication Technologies (IMPACT), 2013-11-01, S. 212-216
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Fast Turn Around Time Development Flow for high Quality LVS rule files
    Lee, Woonggyu ; Jung, Seungjae ; et al.
    In: 2022 IEEE 31st Microelectronics Design & Test Symposium (MDTS), 2022-05-23, S. 1-5
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Simulation of emitter doping profiles formed by industrial POCl3 processes
    Abbott, Malcolm ; Scardera, Giuseppe ; et al.
    In: 2013 IEEE 39th Photovoltaic Specialists Conference (PVSC), 2013-06-01, S. 1383-1388
    Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Microstructural characterization of front-side Ag contact of crystalline Si solar cells with lightly doped emitter
    Li, Z. G. ; Mikeska, K. R. ; et al.
    In: 2012 38th IEEE Photovoltaic Specialists Conference, 2012-06-01, S. 2196-2199
    Konferenz
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Reliability compact modeling approach for layout dependent effects in advanced CMOS nodes
    Ndiaye, C. ; Berthelon, R. ; et al.
    In: 2017 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2017-04-01, S. 1
    Konferenz
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Novel HBT structure for high f/sub t/ at low current density
    Chang, C.E. ; Asbeck, P.M. ; et al.
    In: Proceedings of IEEE International Electron Devices Meeting, 1993, S. 795-798
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Characterization FinFET device layout dependent effect
    Xie, Xinyun ; Ju, Jianhua
    In: 2016 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC), 2016-03-01, S. 1-3
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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