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    Quantification of a Ti(CxN1-x) based multilayer by Auger Electron Spectroscopy
    GUILLOT, J ; WIRTZ, T ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 256 (2009), Heft 3, S. 773-778
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    The characterisation of non-evaporable getters by Auger electron spectroscopy: analytical potential and artefacts
    PRODROMIDES, A. E ; SCHEUERLEIN, C ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 191 (2002), Heft 1-4, S. 300-312
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Auger electron depth profiling of the Cr/Al2O3 metallization system
    LU, H ; CUI, Y. D ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 103 (1996), Heft 2, S. 113-125
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Quantitative analysis of Auger lineshapes of oxidized iron
    SAULT, A. G
    In: Applied surface science, Jg. 74 (1994), Heft 3, S. 249-262
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Oxidation upon segregation: Evaluation of chemical state of segregated species in polycrystalline Fe-Si-Al alloys by AES
    MANDRINO, Djordje ; PETROVIC, Darja Steiner
    In: Applied surface science, Jg. 289 (2014), S. 388-393
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Chemical reaction of sputtered Cu film with PI modified by low energy reactive atomic beam
    PARK, Jong-Yong ; JUNG, Yeon-Sik ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 252 (2006), Heft 16, S. 5877-5891
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    High-temperature Auger electron spectroscopy of Zircaloy-4
    STOJILOVIC, N ; BENDER, E. T ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 252 (2005), Heft 5, S. 1806-1811
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    CeO2 thin films on Si(100) obtained by pulsed laser deposition
    COSSARUTTO, L ; CHAOUI, N ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 126 (1998), Heft 3-4, S. 352-355
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Deposition by laser ablation and characterization of titanium dioxide films on polyethylene-terephthalate
    LOBSTEIN, N ; MILLON, E ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 89 (1995), Heft 3, S. 307-321
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Intrinsic Auger signal profiles derived by Monte Carlo analysis
    Goto, Keisuke ; Ding, Zhiguo ; et al.
    In: Applied Surface Science, 1996-07-01, S. 15-19
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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