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    Signal-to-Noise Ratio Enhancement in Cardiac Pulse Measurements Using Multitap CMOS Image Sensors With In-Pixel Temporal Redundant Samplings
    Cao, Chen ; Aoyama, Satoshi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-06-01), S. 2851-2857
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    2-D Photon-Detection-Probability Simulation and a Novel Guard-Ring Design for Small CMOS Single-Photon Avalanche Diodes
    Hsien, Chin-An ; Liu, Chun-Hsien ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-06-01), S. 2873-2878
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    0.13 μm Low-Power CMOS Current Starved VCO for Vibration Energy Harvesters
    Mendes, Paulo ; Almeida, Goncalo ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-05-01), S. 2167-2172
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    Empirical Large-Signal Modeling of mm-Wave FDSOI CMOS Based on Angelov Model
    Rudolph, Matthias ; Dang Khoa Huynh ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-04-01), S. 1446-1453
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    Random Telegraph Signal in n+/p-Well CMOS Single-Photon Avalanche Diodes
    Jiang, Wei ; M. Jamal Deen
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-06-01), S. 2764-2769
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    A Sun-Tracking CMOS Image Sensor With Black-Sun Readout Scheme
    Kim, Hyeon-June
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-03-01), S. 1115-1120
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    Dark Count Rate Distribution in Neutron-Irradiated CMOS SPADs
    G.-F. Dalla Betta ; Ratti, Lodovico ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 66 (2019-12-01), S. 5230-5237
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    Optimization Design on Active Guard Ring to Improve Latch-Up Immunity of CMOS Integrated Circuits
    Ker, Ming-Dou ; Chen, Chun-Cheng
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 66 (2019-04-01), S. 1648-1655
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    CMOS Single-Photon Avalanche Diode Pixel Design for a Gun Muzzle Flash Detection Camera
    Katz, A. ; Nemirovsky, Yael ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-10-01), S. 4407-4412
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    CMOS Image Sensor With Two-Step Single-Slope ADC Using Differential Ramp Generator
    Kim, Hyeon-June ; Park, Sung-Yun
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-10-01), S. 4966-4971
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    An Analytical Model for the Effective Drive Current in CMOS Circuits
    Pidin, Sergey
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 66 (2019-02-01), S. 855-860
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    Bilayer Pseudospin Junction Transistor (BiSJT) for 'Beyond-CMOS' Logic
    Register, Leonard F. ; MacDonald, Allan H. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-11-01), S. 4759-4762
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    A Dual NIR-Band Lock-In Pixel CMOS Image Sensor With Device Optimizations for Remote Physiological Monitoring
    Yasutomi, Keita ; Jaydeep Kumar Dutta ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-04-01), S. 1688-1693
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    Extraction of Drain Current Thermal Noise in a 28 nm High- <tex-math notation='LaTeX'>${k}$ </tex-math> /Metal Gate RF CMOS Technology
    Qingqing, Liang ; Zhang, Huaiyuan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-06-01), S. 2393-2399
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    Decoupling Structures for Millimeter Wave Integrated Circuits in Digital CMOS Processes
    Wu, Kefei ; Muralidharan, Sriram ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-02-01), S. 788-792
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    Dark Current Sharing and Cancellation Mechanisms in CMOS Image Sensors Analyzed by TCAD Simulations
    Rizzolo, Serena ; Magnan, Pierre ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-12-01), S. 4985-4991
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    A 1.1- $\mu \text{m}$ 33-Mpixel 240-fps 3-D-Stacked CMOS Image Sensor With Three-Stage Cyclic-Cyclic-SAR Analog-to-Digital Converters
    Yasue, Toshio ; Kitamura, Kazuya ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-12-01), S. 4992-5000
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    Design and Modeling of Blue-Enhanced and Bandwidth-Extended PN Photodiode in Standard CMOS Technology
    Hitchcock, Collin ; Zhang, Yiwen ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-07-01), S. 2859-2866
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    Effective Drive Current for Near-Threshold CMOS Circuits’ Performance Evaluation: Modeling to Circuit Design Techniques
    Alam, Naushad ; Sharma, Arvind ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-06-01), S. 2413-2421
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    An Area-Efficient and Low-Power 12-b SAR/Single-Slope ADC Without Calibration Method for CMOS Image Sensors
    Hong, Seong-Kwan ; Kim, Min-Kyu ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-09-01), S. 3599-3604
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