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    Battery-Less Electronic Layer Detectors Array (ELDA) for In-Tool DUV Detection by FinFET CMOS Technology
    Chrong Jung Lin ; Lin, Wei-Hwa ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-10-01), S. 4972-4976
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    CMOS Pixels Directly Sensitive to Both Visible and Near-Infrared Radiation
    Langfelder, Giacomo
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 60 (2013-05-01), S. 1695-1700
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    Study of CMOS APS responsivity enhancement: ring-shaped photodiode
    Yadid-Pecht, Orly ; Shcherback, I. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 52 (2005), S. 126-129
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    A 2.2-$\mu\hbox{m}$-Pitch Single-Transistor Charge-Modulation Pixel in a 0.13-$\mu\hbox{m}$ CMOS Process
    Roy, F. ; Deschamps, Benoit ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 54 (2007-10-01), S. 2623-2629
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    Transversal-readout architecture for CMOS active pixel image sensors
    Miyamoto, M. ; Morimoto, T. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 50 (2003), S. 121-129
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    A Monolithic Amorphous-Selenium/CMOS Single-Photon-Counting X-Ray Detector
    Levine, Peter M. ; El-Falou, Abdallah ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-04-01), S. 1746-1752
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    Photon-Quantum-Noise-Limited Pixel Architecture in Amorphous-Silicon Technology for Large-Area Digital Imaging Applications
    Yazdandoost, Mohammad Y. ; Karim, Karim S.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 59 (2012-11-01), S. 3017-3023
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    Amorphous silicon active pixel sensor readout circuit for digital imaging
    Rowlands, John A. ; Karim, Karim S. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 50 (2003), S. 200-208
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    A voltage-type single-gate CID readout: read and clear-analysis, modeling, and experiment
    Swab, J.M. ; Wang, Samuel C. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 36 (1989), S. 75-80
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