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    A Radiation-Hardened CMOS Image Sensor With Pixels Exhibiting a Negligibly Small Dark-Level Increase During Ionizing Radiation.
    Watanabe, Takashi ; Takeuchi, Tomoaki ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 67 (2020-08-01), Heft 8, S. 1835-1845
    Online academicJournal
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    Radiation Effects in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors: Variation of Photodiode Implant Dose.
    Belloir, Jean-Marc ; Virmontois, Cedric ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 66 (2019-07-01), Heft 7, S. 1671-1681
    Online academicJournal
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    Volltext
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    High-Voltage CMOS Active Pixel Sensor Chip With Counting Electronics for Beam Monitoring.
    Weber, Alena ; Ehrler, Felix ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 69 (2022-06-01), Heft 6, S. 1288-1298
    Online academicJournal
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    A 1- μ W Radiation-Hard Front-End in a 0.18- μ m CMOS Process for the MALTA2 Monolithic Sensor.
    Piro, F. ; Allport, P. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 69 (2022-06-01), Heft 6, S. 1299-1309
    Online academicJournal
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    Optimization of the 65-nm CMOS Linear Front-End Circuit for the CMS Pixel Readout at the HL-LHC.
    Gaioni, L. ; Manghisoni, M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 68 (2021-11-01), Heft 11, S. 2682-2692
    Online academicJournal
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    Proton Irradiation-Induced Random Telegraph Signal Noise in a $2\text{k}\times2\text{k}$ 4T CMOS Active Pixel Sensor: Testing, Detection, and Modeling.
    Wu, M. ; Tang, Y. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 66 (2019-07-01), Heft 7, S. 1820-1827
    Online academicJournal
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    A High Load Current, Low-Noise, Area-Efficient, Full On-Chip Regulator for CMOS Pixel Sensors.
    Wang, Jia ; Gao, Deyuan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 59 (2012-03-01), Heft 3, S. 582-588
    Online academicJournal
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    Charge Signal Processors in a 130 nm CMOS Technology for the Sparse Readout of Small Pitch Monolithic and Hybrid Pixel Sensors.
    Traversi, Gianluca
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 58 (2011-10-15), Heft 5, S. 2391-2400
    Online academicJournal
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    Experimental and Theoretical Evaluation of a High Resolution CMOS Based Detector Under X-Ray Imaging Conditions.
    Michail, Christos M. ; Spyropoulou, Vasiliki A. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 58 (2011-02-15), Heft 1, S. 314-322
    Online academicJournal
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    Effects of Substrate Thinning on the Properties of Quadruple Well CMOS MAPS.
    Zucca, Stefano ; Manghisoni, Massimo ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-03-01), Heft 2, S. 1039-1046
    Online academicJournal
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    Similarities Between Proton and Neutron Induced Dark Current Distribution in CMOS Image Sensors.
    Virmontois, Cedric ; Goiffon, Vincent ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 59 (2012-04-15), Heft 4, S. 927-936
    Online academicJournal
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    Radiation Effects on the Performance of CMOS Photodiode Array Detectors and the Role of Gain-Offset Corrections.
    Ho Kyung Kim ; Min Kook Cho ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 56 (2009-06-02), Heft 3, S. 1179-1183
    Online academicJournal
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    A CMOS Current-Mode Active Pixel Sensor for High Energy Physics and Biomedical Imaging Applications.
    Heini, Sbastien ; Himmi, Abdelkader ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 56 (2009-02-02), Heft 1, S. 346-353
    Online academicJournal
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    Continuous Time-Charge Amplification and Shaping in CMOS Monolithic Sensors for Particle Tracking.
    Ratti, Lodovico
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 53 (2006-12-02), Heft 6, S. 3918-3928
    Online academicJournal
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    Multilevel RTS in Proton Irradiated CMOS Image Sensors Manufactured in a Deep Submicron Technology.
    Goiffon, V. ; Hopkinson, G. R. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 56 (2009-08-02), Heft 4, S. 2132-2141
    Online academicJournal
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    Displacement Damage Effects Due to Neutron and Proton Irradiations on CMOS Image Sensors Manufactured in Deep Submicron Technology.
    Virmontois, Cedric ; Goiffon, Vincent ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 57 (2010-12-01), Heft 6, S. 3101-3108
    Online academicJournal
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    A 65-nm CMOS Prototype Chip With Monolithic Pixel Sensors and Fast Front-End Electronics.
    Gaioni, Luigi ; Manghisoni, Massimo ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 59 (2012-12-15), Heft 6, S. 3304-3311
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    Analysis of Total Dose-Induced Dark Current in CMOS Image Sensors From Interface State and Trapped Charge Density Measurements.
    Goiffon, V. ; Virmontois, C. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 57 (2010-12-01), Heft 6, S. 3087-3094
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    Development of Binary Readout CMOS Monolithic Sensors for MIP Tracking.
    Değerli, Yavuz ; Besson, Auguste ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 56 (2009-02-02), Heft 1, S. 354-363
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    Measurements of Matching and Noise Performance of a Prototype Readout Chip in 40 nm CMOS Process for Hybrid Pixel Detectors.
    Maj, P. ; Grybos, P. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 62 (2015-02-02), Heft 1, S. 359-367
    Online academicJournal
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