Suchergebnisse
UB Katalog
Artikel & mehr
Suchmaske
Suchergebnisse einschränken oder erweitern
Aktive Suchfilter
1 Treffer
-
Reliability and Ruggedness of 1200V SiC Planar Gate MOSFETs Fabricated in a High Volume CMOS FoundryIn: Materials Science Forum, Jg. 924 (2018-06-01), S. 697-702Online unknownZugriff: