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In: PROCEEDINGS- ELECTROCHEMICAL SOCIETY PV, Jg. 96-12, S. 289-295KonferenzZugriff:
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In: PROCEEDINGS- ELECTROCHEMICAL SOCIETY PV, Jg. 94-20, S. 410-420KonferenzZugriff:
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Contact and Spacer Etch Dependent Junction Leakage in Sub-Micron CMOS Technology : Plasma processingIn: PROCEEDINGS- ELECTROCHEMICAL SOCIETY PV, Jg. 94-20, S. 153-162KonferenzZugriff:
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In: PROCEEDINGS- ELECTROCHEMICAL SOCIETY PV, Jg. 92-18, S. 443-450KonferenzZugriff: