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    Post-Silicon Bug Localization in Processors Using Instruction Footprint Recording and Analysis (IFRA)
    Park, S. B. ; Hong, T. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, Jg. 28 (2009-10-01), Heft 10, S. 1545-1558
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
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    WiND: An Efficient Post-Silicon Debug Strategy for Network on Chip
    Rout, S.S. ; Deb, S. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, Jg. 40 (2021-11-01), Heft 11, S. 2372-2385
    Online academicJournal
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Post-Silicon Gate-Level Error Localization With Effective and Combined Trace Signal Selection
    Kumar, B. ; Basu, K. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, Jg. 39 (2020), Heft 1, S. 248-261
    Online academicJournal
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    On Signal Selection for Visibility Enhancement in Trace-Based Post-Silicon Validation
    Liu, X. ; Xu, Q.
    In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, Jg. 31 (2012-08-01), Heft 8, S. 1263-1274
    Online academicJournal
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  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Bit-Flip Detection-Driven Selection of Trace Signals
    Vali, A. ; Nicolici, N.
    In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, Jg. 37 (2018-05-01), Heft 5, S. 1076-1076
    Online academicJournal
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    On Multiplexed Signal Tracing for Post-Silicon Validation
    Liu, X. ; Xu, Q.
    In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, Jg. 32 (2013-05-01), Heft 5, S. 748-759
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Post-Silicon Validation of Multiprocessor Memory Consistency
    Mammo, B.W. ; Bertacco, V. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, Jg. 34 (2015-06-01), Heft 6, S. 1027-1027
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
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