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    Aberration corrected CVD‐TEM for in‐situ growth of III–V semiconductors
    Wallenberghor, Reine ; Jacobssonhor, Daniel ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 265-266
    Nachschlagewerk
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    Direct Observation of CVD Graphene Growth and Related Surface Dynamics of Active Metal Catalysts by In‐situ Scanning Electron Microscopy
    Wanghor, Zhu‐Jun ; Weinberghor, Gisela ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 512-513
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
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    Van der Waals heterostructures of MoSe2 and graphene studied by transmission electron microscopy
    Okunohor, Hanako ; Tuan Dau Minhhor ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 500-501
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Low Voltage Imaging of Defects in 2D‐Quantum Materials
    Bellhor, David ; VonCubehor, Felix ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 532-533
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    2D‐TEM investigations of CNTs synthetized within vertical‐PAA templates for devices applications
    Floreahor, Ileana ; Leandro Nicolas Saccohor ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 922-923
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    New phases in Cu3Si solid solution
    Marianahor, Klementová ; Correahor, Cinthia ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 636-637
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Evidence of metastable zinc blende phase and its influence in nanocrystalline ZnO film growth
    Arthur Brian Aebersoldhor ; Alexanderhor, Duncan ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 586-587
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Transmission electron microscopy of unstained DNA origami structures on free‐standing graphene
    Kabirihor, Yoones ; Ananthhor, Adithya ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 53-54
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Decorated Carbon Nanotubes for Electrochemical Energy Storage (EES) systems
    Ezzedinehor, Mariam ; Floreahor, Ileana ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 920-921
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Advanced STEM characterisation of composition controlled MoxW1 xS2 mixed transition metal dichalcogenide alloys grown by chemical vapour deposition
    Murdockhor, Adrian ; Juan G Lozanohor ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 506-507
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Novel focused ion beam in‐situ methods for stressed and cracked TEM sample preparation
    Zhonghor, X. L. ; McDonaldhor, S. A. ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 487-488
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
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