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  1. Fukuda, H.
    In: 35th International Symposium on Multiple-Valued Logic (ISMVL'05), 2005, S. 144-151
    Konferenz
  2. Pouliquen, Philippe O.
    In: 2010 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2010-05-01, S. 4097-4100
    Konferenz
  3. Fukuda, H.
    In: Proceedings. 34th International Symposium on Multiple-Valued Logic, 2004, S. 128-134
    Konferenz
  4. Lin, W. C. H. ; Kuo, J. B.
    In: 2010 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2010-05-01, S. 3833-3836
    Konferenz
  5. Haga, Y. ; Zare-Hoseini, H. ; et al.
    In: 2005 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2005, S. 220-223
    Konferenz
  6. Kuo, J.B.
    In: Fifth International Workshop on System-on-Chip for Real-Time Applications (IWSOC'05), 2005, S. 143-148
    Konferenz
  7. Sahruri, Abdullah ; Margala, Martin ; et al.
    In: 2024 25th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 2024-04-03, S. 1-7
    Konferenz
  8. Morris, W.
    In: 2003 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings, 2003. 41st, 2003, S. 76-84
    Konferenz
  9. Ezaki, D. ; Hashizume, M. ; et al.
    In: Proceedings. DELTA 2004. Second IEEE International Workshop on Electronic Design, Test and Applications, 2004, S. 306-311
    Konferenz
  10. Tang, K.T. ; Friedman, E.G.
    In: ISCAS 2001. The 2001 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (Cat. No.01CH37196), Jg. 5 (2001), S. 463-466
    Konferenz
  11. Djellid-Ouar, A. ; Cathebras, G. ; et al.
    In: International Conference on Design and Test of Integrated Systems in Nanoscale Technology, 2006. DTIS, 2006, S. 257-261
    Konferenz
  12. Sagahyroon ; Aloul, F.
    In: MELECON 2006 - 2006 IEEE Mediterranean Electrotechnical Conference, 2006, S. 70-73
    Konferenz
  13. Nishijima, K. ; Sato, T. ; et al.
    In: The 25th International Telecommunications Energy Conference, 2003. INTELEC, 2003, S. 510-514
    Konferenz
  14. Weng, Hon-Sum ; Chang, R.T. ; et al.
    In: International Electron Devices Meeting. Technical Digest, 1996, S. 915-918
    Konferenz
  15. Nogawa, M. ; Ohtomo, Y.
    In: Proceedings of Second IEEE Asia Pacific Conference on ASICs. AP-ASIC 2000 (Cat. No.00EX434), 2000, S. 95-98
    Konferenz
  16. Ichihashi, M. ; Toda, H. ; et al.
    In: Digest of Technical Papers. 2005 Symposium on VLSI Circuits,, 2005, S. 366-369
    Konferenz
  17. Secareanu, R.M. ; Hartman, D.
    In: 15th Annual IEEE International ASIC/SOC Conference, 2002, S. 198-202
    Konferenz
  18. Ajjikuttira, A.B. ; Wei Liat Chan ; et al.
    In: Proceedings. IEEE Asia-Pacific Conference on ASIC, 2002, S. 69-72
    Konferenz
  19. Enomoto, T. ; Oka, Y. ; et al.
    In: Proceedings of the 28th European Solid-State Circuits Conference, 2002, S. 411-414
    Konferenz
  20. Kong, Bai-Sun ; Kang, Dong-Oh ; et al.
    In: ICVC '99. 6th International Conference on VLSI and CAD (Cat. No.99EX361), 1999, S. 289-292
    Konferenz
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md 768 - 992
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