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  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    A Novel Physics Aware ANN-Based Framework for BSIM-CMG Model Parameter Extraction
    Singhal, A. ; Pahwa, G. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024-05-01), Heft 5, S. 3307-3314
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Deep Learning-Based Fast BSIM-CMG Parameter Extraction for General Input Dataset
    Ashai, A. ; Jadhav, A. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 70 (2023-07-01), Heft 7, S. 3437-3441
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Model Predictive Control Strategy of Grid-tied Converter control in Weak-Grid conditions for Containerized Microgrid (CMG) Systems
    Gupta, Gaurav Mani ; Mondal, Suman ; et al.
    In: 2022 IEEE PES Innovative Smart Grid Technologies - Asia (ISGT Asia), 2022-11-01, S. 364-368
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Ain't misbehavin': the relationship between writing and social interaction in computer-mediated group (CMG) process
    Schipke, R.C.
    In: Proceedings. 2005 International Symposium on Technology and Society, 2005. Weapons and Wires: Prevention and Safety in a Time of Fear. ISTAS, 2005, S. 88-93
    Konferenz
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  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Deep-Learning-Assisted Physics-Driven MOSFET Current-Voltage Modeling
    Kao, M. ; Kam, H. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 43 (2022-06-01), Heft 6, S. 974-977
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Research on Fault Diagnosis Method of Control Moment Gyroscope Based on Random Forest Algorithm
    Jiang, Ruonan ; Jiang, Mengzhe ; et al.
    In: 2023 Global Reliability and Prognostics and Health Management Conference (PHM-Hangzhou), 2023-10-12, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Degradation Modeling and Remaining Useful Life Prediction of Control Moment Gyroscope
    Tian, Limei ; Wu, Zongpei
    In: 2023 Global Reliability and Prognostics and Health Management Conference (PHM-Hangzhou), 2023-10-12, S. 1-5
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Enhancement and Expansion of the Neural Network-Based Compact Model Using a Binning Method
    Choi, J. ; Jeong, H. ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 12 (2024), S. 65-73
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Design Exploration of 14 nm FinFET for Energy-Efficient Cryogenic Computing
    Gaidhane, A.D. ; Saligram, R. ; et al.
    In: IEEE Journal on Exploratory Solid-State Computational Devices and Circuits, Jg. 9 (2023-12-01), Heft 2, S. 108-115
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Accurate SPICE Model for Cells With Tube-Type Poly-Si Channel in Cell Strings of Vertical NAND Flash Memory
    Hwang, J. ; Yoo, H. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 70 (2023-10-01), Heft 10, S. 5469-5474
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Compact Modeling of Process Variations in Nanosheet Complementary FET (CFET) and Circuit Performance Predictions
    Yang, X. ; Sun, Y. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 70 (2023-07-01), Heft 7, S. 3935-3942
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Performance analysis of PowerPC 603 FF at nano-scale CMOS technologies for WSNs
    Cornelius, Catherine ; Vinoth, R. ; et al.
    In: 2016 3rd International Conference on Devices, Circuits and Systems (ICDCS), 2016-03-01, S. 271-274
    Konferenz
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    The Factor of Safety-Constrained Model Predictive Controller Design for Closed-Loop Reservoir Management
    Ganesh, Ajay ; Chalaturnyk, Rick ; et al.
    In: 2022 IEEE International Symposium on Advanced Control of Industrial Processes (AdCONIP), 2022-08-07, S. 24-29
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Modeling double gate FinFETs by using artificial neural network
    Abtin, Milad ; Keshavarzi, Parviz ; et al.
    In: 2010 IEEE International Conference on Semiconductor Electronics (ICSE2010), 2010-06-01, S. 38-40
    Konferenz
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Cross-Modal Graph With Meta Concepts for Video Captioning
    Wang, H. ; Lin, G. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Image Processing, Jg. 31 (2022), S. 5150-5162
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Multi-Physics Evaluation of Silicon Steep-Slope Cold Source FET
    Gan, Weizhuo ; Prentki, Raphael ; et al.
    In: 2021 5th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), 2021-04-08, S. 1-3
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    A Unified Physical BTI Compact Model in Variability-Aware DTCO Flow: Device Characterization and Circuit Evaluation on Reliability of Scaling Technology Nodes
    Zhao, Ying ; Wang, Lingfei ; et al.
    In: 2021 Symposium on VLSI Technology, 2021-06-13, S. 1-2
    Konferenz
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Predictive compact modeling of random variations in FinFET technology for 16/14nm node and beyond
    Jiang, Xiaobo ; Wang, Xingsheng ; et al.
    In: 2015 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2015-12-01, S. 1
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Machine Learning Augmented Compact Modeling for Simultaneous Improvement in Computational Speed and Accuracy
    Sheelvardhan, K. ; Guglani, S. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. PP, Heft 99, S. 1-7
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Recurrent Variational Information Bottleneck for Time Series Trend Prediction
    Pang, Sung-Hyuk ; Goupil, Alban ; et al.
    In: 2023 IEEE Information Theory Workshop (ITW), 2023-04-23, S. 102-106
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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