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  1. SI MOUSSA, M ; PAVAGEAU, C ; et al.
    In: Solid-state electronics, Jg. 50 (2006), Heft 11-12, S. 1822-1827
    academicJournal
  2. WÜNSCH, S ; SCHERER, T. A ; et al.
    In: Proceedings of the 5th European Conference on Applied Superconductivity, EUCAS 2001, Lyngby, Denmark, August 26-30, 2001. Part I, Jg. 372-76 (2002), S. 478-481
    Konferenz
  3. ELGAID, Khaled ; MCCLOY, David A ; et al.
    In: Proceedings of the 28th International Conference on Micro- and Nano-Engineering, September 16-19, 2002, Lugano, Switzerland, Jg. 67-68 (2003), S. 417-421
    Konferenz
  4. YANG, W. S ; LEE, H.-Y ; et al.
    In: Optical materials (Amsterdam), Jg. 27 (2005), Heft 10, S. 1642-1646
    academicJournal
  5. YASUOKA, Yoshizumi ; SUZUKI, Kenji ; et al.
    In: Proceedings of the 29th Conference on Micro and Nano Engineering, September 22-25, 2003, Cambridge, United Kingdom, Jg. 73-74 (2004), S. 496-501
    Konferenz
  6. WEIMANN, Th ; HINZE, P ; et al.
    In: Proceedings of the 28th International Conference on Micro- and Nano-Engineering, September 16-19, 2002, Lugano, Switzerland, Jg. 67-68 (2003), S. 363-368
    Konferenz
  7. SUN, Xiao-Feng ; DING, Gui-Fu ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 37 (2006), Heft 11, S. 1379-1383
    academicJournal
  8. DAI, Ching-Liang ; HSU, Heng-Ming ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 38 (2007), Heft 4-5, S. 519-524
    academicJournal
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