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    Laser-Assisted Simulation of Dose-Rate Effects of Neutron-Irradiated NPN Transistors.
    Tang, Ge ; Sun, Peng ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 69 (2022-05-01), Heft 5, S. 1167-1175
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    1/f Noise Model for NPN Bipolar Junction Transistors Based on Radiation Effect.
    Zhao, Qifeng ; Zhuang, Yiqi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 62 (2015-08-01), Heft 4a, S. 1682-1688
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Effects of radiation-induced change in 1/f noise and ELDRS of the NPN transistors.
    Hu, W. ; Zhuang, Y. Q. ; et al.
    In: Materials Research Innovations, Jg. 19 (2015-06-02), S. S6-50- (4S.)
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Effects of radiation-induced change in 1/f noise and ELDRS of the NPN transistors.
    Hu, W. ; Zhuang, Y. Q. ; et al.
    In: Materials Research Innovations, Jg. 19 (2015-06-01), Heft 4, S. S6-50- (4S.)
    academicJournal
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    Research on the Combined Effects of Ionization and Displacement Defects in NPN Transistors Based on Deep Level Transient Spectroscopy.
    Li, Xingji ; Liu, Chaoming ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 62 (2015-04-01), Heft 2, S. 555-564
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Implications of Radiation-Induced Dopant Deactivation for npn Bipolar Junction Transistors.
    Witczak, Steven C. ; Lacoe, Ronald L.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 47 (2000-12-03), Heft 6, S. 2281-2288
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    The Effects of X-Ray and Proton Irradiation on a 200 GHz/90 GHz Complementary (npn + pnp) SiGe:C HBT Technology.
    Diestelhorst, Ryan M. ; Finn, Steven ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 54 (2007-12-01), Heft 6, S. 2190-2195
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    The Effects of Radiation on 1/f Noise in Complementary (npn + pnp) SiGe HBTs.
    Zhao, Enhai ; Sutton, Akil, K. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 51 (2004-12-02), Heft 6, S. 3243-3249
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    The Effects of Proton and X-Ray Irradiation on the DC and AC Performance of Complementary (npn + pnp) SiGe HBTs on Thick-Film SOI.
    Bellini, Marco ; Jun, Bongim ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 54 (2007-12-01), Heft 6, S. 2245-2250
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Total-dose effects in double-gate-controlled NPN bipolar transistors.
    Vandooren, A. ; Yuan, J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 48 (2001-10-01), Heft 5, S. 1694-1699
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    A comparison of the effects of cobalt-60 γ ray irradiation on DPSA bipolar transistors at high and low injection levels.
    Zhang, Peijian ; Wu, Xue ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 71 (2017-04-01), S. 86-90
    academicJournal
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    Investigation and Mitigation of Analog SET on a Bandgap Reference in Triple-Well CMOS Using Pulsed Laser Techniques.
    Zanchi, Alfio ; Buchner, Stephen ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 58 (2011-12-01), Heft 6, S. 2570-2577
    Online academicJournal
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    Investigation of deep level defects in copper irradiated bipolar junction transistor
    Madhu, K.V. ; Kumar, Ravi ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 52 (2008-08-01), Heft 8, S. 1237-1243
    academicJournal
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    Modeling Total-Dose Effects for a Low-Dropout Voltage Regulator.
    Ramachandran, V. ; Narasimham, B. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 53 (2006-12-01), Heft 6, S. 3223-3231
    Online academicJournal
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    Radiation Response of Bipolar Transistors at Various Irradiation Temperatures and Electric Biases: Modeling and Experiment.
    Zebrev, G. I. ; Pavlov, D. Y. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 53 (2006-08-01), Heft 4, S. 1981-1987
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Modulation of radiation resistance by hydrogen soaking and aging treatment in transistors.
    Li, X.J. ; Zhao, J.Y. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 100 (2019-09-01), S. N.PAG
    academicJournal
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