Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
18 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Sprache

18 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Development of a radiation hardened npn bipolar transistor for a 64K CMOS fusible-link PROM
    Newman, W [Harris Semiconductor, Melbourne, FL (United States)]
    1994
    Online Konferenz
    Zugriff:
    View record in SciTech Connect (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Radiation hardened 64-bit CMOS/SOS RAM
    Blandford, J
    1976
    Online Konferenz
    Zugriff:
    View record in SciTech Connect (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    SEU characterization of hardened CMOS SRAMS using statistical analysis of feedback delay in memory cells
    Koga, R [Aerospace Corp., El Segundo, CA (US)]
    1989
    Online Konferenz
    Zugriff:
    View record in SciTech Connect (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Variation in SEU sensitivity of dose-imprinted CMOS SRAMs
    Kim, H [Science System and Applications, Inc., Seabrook, MD (US)]
    1989
    Online Konferenz
    Zugriff:
    View record in SciTech Connect (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Transient radiation hardening of CMOS LSI and VLSI memory circuits
    Diehl-Nagle, S
    1984
    Online Konferenz
    Zugriff:
    View record in SciTech Connect (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Radiation-hardened CMOS/SOI development status
    Davis, G
    1985
    Online Konferenz
    Zugriff:
    View record in SciTech Connect (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    MOS measurement methods, design principles for a radiation-hardened CMOS/SOS memory. Topical report, 16 May 77-1 Feb 79
    Nielsen, R
    1979
    Online report
    Zugriff:
    View record in SciTech Connect (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Single-event upset rate estimates for a 16-K CMOS (complementary metal oxide semiconductor) SRAM (static random access memory). Technical report
    Kolasinski, W
    1986
    Online report
    Zugriff:
    View record in SciTech Connect (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Properties and characterization of thin film ferroelectric capacitors for nonvolatile memories
    Dressendorfer, P
    1990
    Online Konferenz
    Zugriff:
    View record in SciTech Connect (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Progress on a New Non-Volatile Memory for Space Based on Chalcogenide Glass
    Knowles, K [BAE SYSTEMS, 9300 Wellington Rd, Manassas, VA 20110 (United States)]
    2004
    Online academicJournal
    Zugriff:
    View record in SciTech Connect (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Implementing QML (Qualified Manufacturers List) for radiation hardness assurance
    Schwank, J
    1990
    Online Konferenz
    Zugriff:
    View record in SciTech Connect (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Radiation evaluation study of LSI RAM technologies. Final report
    Knoll, M
    1980
    Online report
    Zugriff:
    View record in SciTech Connect (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Design considerations for a radiation hardened nonvolatile memory
    Murray, J
    1993
    Online Konferenz
    Zugriff:
    View record in SciTech Connect (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Effects of process and geometry scaling on SEU hardness
    Browning, J
    1987
    Online Konferenz
    Zugriff:
    View record in SciTech Connect (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Fabrication and total dose testing of a 256Kx1 radiation hardened SRAM
    Flores, R
    1988
    Online Konferenz
    Zugriff:
    View record in SciTech Connect (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    A chip-level modeling approach for rail span collapse and survivability analyses
    Dinger, G [Mission Research Corp. Albuquerque, NM (US)]
    1989
    Online Konferenz
    Zugriff:
    View record in SciTech Connect (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Proton induced upsets in the low altitude polar orbit
    Ward, J [Surrey Satellite Technology, Univ. of Surrey, Guildgord (GB)]
    1989
    Online Konferenz
    Zugriff:
    View record in SciTech Connect (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    The effect of circuit topology on radiation-induced latchup
    Baze, M [High Technology Center, Boeing Aerospace and Electronics, Seattle, WA (US)]
    1989
    Online Konferenz
    Zugriff:
    View record in SciTech Connect (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -