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    academicJournal
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    Tradeoffs Between RF Performance and SET Robustness in Low-Noise Amplifiers in a Complementary SiGe BiCMOS Platform.
    Ildefonso, Adrian ; Tzintzarov, George N. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 67 (2020-07-01), Heft 7, S. 1521-1529
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    The Use of Inverse-Mode SiGe HBTs as Active Gain Stages in Low-Noise Amplifiers for the Mitigation of Single-Event Transients.
    Song, Ickhyun ; Cho, Moon-Kyu ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 64 (2017), Heft 1, part 1, S. 359-366
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Design of Radiation-Hardened RF Low-Noise Amplifiers Using Inverse-Mode SiGe HBTs.
    Song, Ickhyun ; Jung, Seungwoo ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-12-01), Heft 6, S. 3218-3225
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Utilizing SiGe HBT Power Detectors for Sensing Single-Event Transients in RF Circuits.
    Ildefonso, Adrian ; Coen, Christopher T. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 65 (2018), Heft 1, S. 239-248
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    On the Application of Inverse-Mode SiGe HBTs in RF Receivers for the Mitigation of Single-Event Transients.
    Song, Ickhyun ; Cho, Moon-Kyu ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 64 (2017-05-01), Heft 5, S. 1142-1150
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Single-Event Effects in High-Frequency Linear Amplifiers: Experiment and Analysis.
    Zeinolabedinzadeh, Saeed ; Ying, Hanbin ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 64 (2017), Heft 1, part 1, S. 125-132
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    An Investigation of Single-Event Effect Modeling Techniques for a SiGe RF Low-Noise Amplifier.
    Lourenco, Nelson E. ; Zeinolabedinzadeh, Saeed ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 63 (2016-02-15), Heft 1b, S. 273-280
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Tradeoffs Between RF Performance and SET Robustness in Low-Noise Amplifiers in a Complementary SiGe BiCMOS Platform
    Lourenco, Nelson E. ; Fleetwood, Zachary E. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 67 (2020-07-01), S. 1521-1529
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Utilizing SiGe HBT Power Detectors for Sensing Single-Event Transients in RF Circuits
    Ildefonso, Adrian ; Coen, Christopher T. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 65 (2018), S. 239-248
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    On the Application of Inverse-Mode SiGe HBTs in RF Receivers for the Mitigation of Single-Event Transients
    Paki, Pauline ; Ju, Inchan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 64 (2017-05-01), S. 1142-1150
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    The Use of Inverse-Mode SiGe HBTs as Active Gain Stages in Low-Noise Amplifiers for the Mitigation of Single-Event Transients
    McMorrow, Dale ; Lourenco, Nelson E. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 64 (2017), S. 359-366
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    An Investigation of Single-Event Effect Modeling Techniques for a SiGe RF Low-Noise Amplifier
    Khachatrian, Ani ; Lourenco, Nelson E. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 63 (2016-02-01), S. 273-280
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Mitigation of Total Dose Performance Degradation in an 8–18 GHz SiGe Reconfigurable Receiver
    Saha, Prabir ; Cressler, John D. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-12-01), S. 3226-3235
    Online unknown
    Zugriff:
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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