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    Elevated Co-silicide for sub-100nm high performance and RF CMOS
    JURCZAK, M ; DE POTTER, M ; et al.
    In: ESSDERC 2002 : 32nd European solid-state device research conference (Firenze, 24-26 September 2002), 2002, S. 311-314
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    The RF potential of high-performance 100nm CMOS technology
    VENEZIA, V. C ; SCHOLTEN, A. J ; et al.
    In: ESSDERC 2002 : 32nd European solid-state device research conference (Firenze, 24-26 September 2002), 2002, S. 491-494
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Imagine the future in communications technology
    HARAME, D ; JOSEPH, A ; et al.
    In: ESSDERC 2002 : 32nd European solid-state device research conference (Firenze, 24-26 September 2002), 2002, S. 53-60
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Roadmap differentiation and emerging trends in BCD technology
    CONTIERO, Claudio ; ANDREINI, Antonio ; et al.
    In: ESSDERC 2002 : 32nd European solid-state device research conference (Firenze, 24-26 September 2002), 2002, S. 275-282
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Measurement of MOSFET LF noise under large signal RF excitation
    VAN DER WEL, Arnoud P ; KLUMPERINK, Eric A. M ; et al.
    In: ESSDERC 2002 : 32nd European solid-state device research conference (Firenze, 24-26 September 2002), 2002, S. 91-94
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Impact of deep N-well implantation on substrate noise coupling and RF transistor performance for systems-on-a-chip integration
    CHEW, K. W ; ZHANG, J ; et al.
    In: ESSDERC 2002 : 32nd European solid-state device research conference (Firenze, 24-26 September 2002), 2002, S. 251-254
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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