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    A 30-fps 192 × 192 CMOS Image Sensor With Per-Frame Spatial-Temporal Coded Exposure for Compressive Focal-Stack Depth Sensing.
    Luo, Yi ; Mirabbasi, Shahriar
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 57 (2022-06-01), Heft 6, S. 1661-1672
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    A High Dynamic Range 128 × 120 3-D Stacked CMOS SPAD Image Sensor SoC for Fluorescence Microendoscopy.
    Erdogan, Ahmet T. ; Al Abbas, Tarek ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 57 (2022-06-01), Heft 6, S. 1649-1660
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Efficient Pipelined Circuits for Histogram-based Tone Mapping of Nonlinear CMOS Image Sensors.
    Nascimento, Maikon ; Li, Jing ; et al.
    In: Journal of Imaging Science & Technology, Jg. 65 (2021-07-01), Heft 4, S. 1-13
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    11-bit Column-Parallel Single-Slope ADC With First-Step Half-Reference Ramping Scheme for High-Speed CMOS Image Sensors.
    Kim, Hyeon-June
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 56 (2021-07-01), Heft 7, S. 2132-2141
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Demonstration of 3-D SRAM Cell by 3-D Monolithic Integration of InGaAs n-FinFETs on FDSOI CMOS With Interlayer Contacts.
    Deshpande, Veeresh ; Hahn, H. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-11-01), Heft 11, S. 4503-4509
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    CIM-Spin: A Scalable CMOS Annealing Processor With Digital In-Memory Spin Operators and Register Spins for Combinatorial Optimization Problems.
    Su, Yuqi ; Kim, Hyunjoon ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 57 (2022-07-01), Heft 7, S. 2263-2273
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Josephson-CMOS Hybrid Memory With Nanocryotrons.
    Tanaka, Masamitsu ; Suzuki, Masato ; et al.
    In: IEEE Transactions on Applied Superconductivity, Jg. 27 (2017-06-01), Heft 4, Part 1, S. 1-4
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    1-kb FinFET Dielectric Resistive Random Access Memory Array in $1\times $ nm CMOS Logic Technology for Embedded Nonvolatile Memory Applications.
    Huang, Kai Ping ; Pan, Hsin Wei ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-11-01), Heft 11, S. 4273-4278
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Self-Selection RRAM Cell With Sub- \mu \textA Switching Current and Robust Reliability Fabricated by High- $K$ /Metal Gate CMOS Compatible Technology.
    Huang, Peng ; Chen, Sijie ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-11-01), Heft 11, S. 4295-4301
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    X-SRAM: Enabling In-Memory Boolean Computations in CMOS Static Random Access Memories.
    Agrawal, Amogh ; Jaiswal, Akhilesh ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits & Systems. Part I: Regular Papers, Jg. 65 (2018-12-01), Heft 12, S. 4219-4232
    Online serialPeriodical
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    A Silicon-on-Thin-Buried-Oxide CMOS Microcontroller with Embedded Atom-Switch ROM.
    Sakamoto, Toshitsugu ; Tsuji, Yukihide ; et al.
    In: IEEE Micro, Jg. 35 (2015-11-01), Heft 6, S. 13-23
    Online academicJournal
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    Volltext
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Comparative Analysis of MTJ/CMOS Hybrid Cells Based on TAS and In-Plane STT Magnetic Tunnel Junctions.
    Jovanovic, Bojan ; Brum, Raphael M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Magnetics, Jg. 51 (2015-02-15), Heft 2, S. 1-11
    Online academicJournal
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    Volltext
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Quantifying the Gap Between FPGA and Custom CMOS to Aid Microarchitectural Design.
    Wong, Henry ; Betz, Vaughn ; et al.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 22 (2014-10-01), Heft 10, S. 2067-2080
    Online academicJournal
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    A Variation-Aware Timing Modeling Approach for Write Operation in Hybrid CMOS/STT-MTJ Circuits.
    De Rose, Raffaele ; Lanuzza, Marco ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits & Systems. Part I: Regular Papers, Jg. 65 (2018-03-01), Heft 3, S. 1086-1095
    Online serialPeriodical
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    A 40-nm CMOS Multifunctional Computing-in-Memory (CIM) Using Single-Ended Disturb-Free 7T 1-Kb SRAM.
    Wang, Chua-Chin ; Tolentino, Lean Karlo S. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 29 (2021-12-01), Heft 12, S. 2172-2185
    Online academicJournal
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Reducing Dynamism in DRAM With Bistable MEMS Switch as Sleep Transistor.
    Arya, Dhairya Singh ; Kumar, Sushil ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-03-01), Heft 3, S. 1045-1049
    Online academicJournal
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    200-MHz Single-Ended 6T 1-kb SRAM With 0.2313 pJ Energy/Access Using 40-nm CMOS Logic Process.
    Wang, Chua-Chin ; Kuo, Chien-Ping
    In: IEEE Transactions on Circuits & Systems. Part II: Express Briefs, Jg. 68 (2021-09-01), Heft 9, S. 3163-3166
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    A Process-Variation-Tolerant On-Chip CMOS Thermometer for Auto Temperature Compensated Self-Refresh of Low-Power Mobile DRAM.
    Shim, Daeyong ; Jeong, Hyunsik ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 48 (2013-10-01), Heft 10, S. 2550-2557
    Online academicJournal
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    Design and Implementation of a Single Flux Quantum Logic-Based Memory Controller for Josephson-CMOS Hybrid Memory Systems.
    Demirhan, Seda ; Bozbey, Ali
    In: IEEE Transactions on Applied Superconductivity, Jg. 30 (2020-10-01), Heft 7, S. 1-6
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    High-Throughput In-Memory Computing for Binary Deep Neural Networks With Monolithically Integrated RRAM and 90-nm CMOS.
    Yin, Shihui ; Sun, Xiaoyu ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-10-01), Heft 10, S. 4185-4192
    Online academicJournal
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