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    Comparison of X-Ray and Electron Radiation Effects on Dark Current Non-Uniformity and Fluctuations in CMOS Image Sensors.
    Le Roch, Alexandre ; Virmontois, Cedric ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 67 (2020-02-01), Heft 2, S. 268-277
    Online academicJournal
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Phosphorus Versus Arsenic: Role of the Photodiode Doping Element in CMOS Image Sensor Radiation-Induced Dark Current and Random Telegraph Signal.
    Le Roch, Alexandre ; Virmontois, Cedric ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 67 (2020-07-01), Heft 7, S. 1241-1250
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Dose and Single-Event Effects on a Color CMOS Camera for Space Exploration.
    Virmontois, Cedric ; Belloir, Jean-Marc ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 66 (2019), Heft 1, S. 104-110
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Proton Irradiation-Induced Random Telegraph Signal Noise in a $2\text{k}\times2\text{k}$ 4T CMOS Active Pixel Sensor: Testing, Detection, and Modeling.
    Wu, M. ; Tang, Y. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 66 (2019-07-01), Heft 7, S. 1820-1827
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Radiation-Induced Leakage Current and Electric Field Enhancement in CMOS Image Sensor Sense Node Floating Diffusions.
    Le Roch, Alexandre ; Rizzolo, Serena ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 66 (2019-03-01), Heft 3, S. 616-624
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Statistical Analysis of Random Telegraph Signal Maximum Transition Amplitudes in an Irradiated CMOS Image Sensor.
    Gilard, Olivier ; Martin, Emma ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-03-01), Heft 2, S. 939-947
    Online academicJournal
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Radiation-Induced Dose and Single Event Effects in Digital CMOS Image Sensors.
    Virmontois, Cedric ; Toulemont, Arthur ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-12-01), Heft 6, S. 3331-3340
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Multilevel RTS in Proton Irradiated CMOS Image Sensors Manufactured in a Deep Submicron Technology.
    Goiffon, V. ; Hopkinson, G. R. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 56 (2009-08-02), Heft 4, S. 2132-2141
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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