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1999Online BuchZugriff:
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In: Journal of The Electrochemical Society, Jg. 158 (2011-12-01), Heft 12, S. H1258- (7S.)academicJournalZugriff:
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In: Photonics & Nanostructures: Fundamentals & Applications, Jg. 2 (2004-10-01), Heft 2, S. 81-86academicJournalZugriff:
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Defect- and Fault-Tolerant Static RAM Module Designs Based on Parity Checking and Automatic Testing.In: Systems & Computers in Japan, Jg. 24 (1993-02-01), Heft 2, S. 1-10Online academicJournalZugriff: