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    academicJournal
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    Reflection High-Energy Electron Diffraction Intensity Oscillations during Si MBE Growth on HF-Treated Si(111) Surface
    Hasegawa, Fumio ; Kumagai, Yoshinao ; et al.
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 31 (1992-08-01), S. L1103
    Online unknown
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    Influence of Substrate Misorientation on Surface Morphology of Be-Doped GaAs Grown by MBE
    Goto, Shigeo ; Kakibayashi, Hiroshi ; et al.
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 29 (1990-07-01), S. L1046
    Online unknown
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    Initial Stages of GaAs MBE Growth on Si(111)( √3×√3)-Ga Surfaces
    Hasegawa, Shigehiko ; Maehashi, Kenzo ; et al.
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 29 (1990), S. L13
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    Surface Diffusion Length of Gallium during MBE Growth on the Various Misoriented GaAs(001) Substrates
    Nishinaga, Tatau ; Shitara, Tomoya
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 28 (1989-07-01), S. 1212-1212
    Online unknown
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    Surface Stoichiometry and Morphology of MBE Grown (001)GaAs through the Analysis of RHEED Oscillations
    Golmayo, Dolores ; Briones, Fernando ; et al.
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 24 (1985-06-01), S. L478
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    RHEED Observation on (001)ZnSe Surface: MBE Surface Phase Diagram and Kinetic Behavior of Zn And Se Adatoms
    Kawashima, Mitsuo ; Minato, Tetsuo ; et al.
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 26 (1987-08-01), S. L1326
    Online unknown
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    Theoretical Study of Mode Transition between 2d-Nucleation and Step Flow in MBE Growth of GaAs
    Cho, Kyoung-Ik ; Nishinaga, Tatau
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 27 (1988), S. L12
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    Accommodation of Large Lattice Mismatch of GaP on GaAs(100) and GaAs on GaP(100) Layers Grown by MBE
    Miyao, Masahiro ; Ishikawa, Kenji ; et al.
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 26 (1987-06-01), S. 908-908
    Online unknown
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    Growth of GaAs on Si Substrates by Metalorganic MBE Using Triethylgallium and Arsenic
    Uneta, Makoto ; Ohmachi, Yoshiro ; et al.
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 28 (1989-05-01), S. L727
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    RHEED Patterns and Surface Morphology of ZnSe Homoepitaxial Films Grown by MBE
    Kawashima, Mitsuo ; Minato, Tetsuo ; et al.
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 28 (1989-09-01), S. 1560-1560
    Online unknown
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    Observation of Transient Behavior of GaAs MBE Growth by RHEED Oscillation
    Horikoshi, Yoshiji ; Kawashima, Minoru ; et al.
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 25 (1986-12-01), S. 1847-1847
    Online unknown
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    MBE Growth of Ga1-xInxAs Alloy on Si Substrate
    Takeuchi, Hiroaki ; Oe, Kunishige
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 26 (1987-02-01), S. L120
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    Reflection High-Energy Electron Diffraction Intensity Oscillations during GexSi1-x MBE Growth on Si(001) Substrates
    Hashigutchi, Gen ; Kuniyoshi, Katsuya ; et al.
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 26 (1987-05-01), S. 666-666
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    Stress-Released MBE Growth on GaAs on Si (001) with a Si-GaAs Superlattice Buffer
    Kondo, Kazuo ; Ishikawa, Tomonori ; et al.
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 28 (1989), S. L10
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    Simultaneous Observation of RHEED Oscillation during GaAs MBE Growth with Modulated Electron Beam
    Sugiura, Hideo ; Kawashima, Minoru ; et al.
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 25 (1986-06-01), S. 847-847
    Online unknown
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    academicJournal
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    Classification of in situ reflection high energy electron diffraction images by principal component analysis
    Kwoen, Jinkwan ; Arakawa, Yasuhiko
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 60 (2021-01-26), S. SBBK03
    Online unknown
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    In-situ Annealing of Thin SrO Films Grown on Si(001)-2×1 by Molecular Beam Epitaxy
    Tambo, Toyokazu ; Shimizu, Atsushi ; et al.
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 39 (2000-11-01), S. 6432-6432
    Online unknown
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    Epitaxial Growth of ZnO Films on (0001) Sapphire at Low Temperatures by Electron Cyclotron Resonance-assisted Molecular Beam Epitaxy and Their Microstructural Characterizations
    Shindo, Daisuke ; Nakamura, Kiyoshi ; et al.
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 37 (1998-03-01), S. 781-781
    Online unknown
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