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64 Treffer

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    Monitoring of temperature effects on CMOS memories
    Farjallah, Emna
    2018
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
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    Etude de la fiabilité de type negative bias temperature instability (NBTI) et par porteurs chauds (HC) dans les filières CMOS 28nm et 14nm FDSOI
    Ndiaye, Cheikh
    2017
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
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    Impact of Bias Temperature Instability and Random Telegraph Noise on CMOS Logic Circuits
    Matsumoto, Takashi
    2015
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    バイアス温度不安定性とランダムテレグラフノイズがCMOS論理回路特性に及ぼす影響
    松本, 高士
    2015
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    CMOS digital integrated circuit design faced to NBTI and other nanometric effects
    Dal Bem, Vinícius
    In: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS, 2010
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    CMOS digital integrated circuit design faced to NBTI and other nanometric effects
    Dal Bem, Vinícius
    In: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS, 2010
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    CMOS digital integrated circuit design faced to NBTI and other nanometric effects
    Dal Bem, Vinícius
    In: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS, 2010
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Aging aware design techniques and CMOS gate degradation estimative
    Butzen, Paulo Francisco
    In: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS, 2012
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Aging aware design techniques and CMOS gate degradation estimative
    Butzen, Paulo Francisco
    In: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS, 2012
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Aging aware design techniques and CMOS gate degradation estimative
    Butzen, Paulo Francisco
    In: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS, 2012
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Trade-offs between performance and reliability of sub 100-nm RF-CMOS technologies
    Arora, Rajan
    2012
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Highly efficient linear CMOS power amplifiers for wireless communications
    Jeon, Ham Hee
    2012
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Caractérisation et modélisation de la fiabilité des transistors et circuits millimétriques conçus en technologies BiCMOS et CMOS
    Ighilahriz, Salim
    2014
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Fiabilité des diélectriques low-k SiOCH poreux dans les interconnexions CMOS avancées
    Chery, Emmanuel
    2014
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Predictive modeling of device and circuit reliability in highly scaled CMOS and SiGe BiCMOS technology
    Moen, Kurt Andrew
    2012
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Probabilistic CMOS (PCMOS) in the Nanoelectronics Regime
    Ayhan, Pinar
    2007
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Développement des technologies mémoires 'back-end' résistives à base d'oxydes pour application dans des 'Systems on Chip' avancés.
    Diokh, Thérèse
    2013
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
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    Caractérisation et modélisation de UTBB MOSFET sur SOI pour les technologies CMOS avancées et applications en simulations circuits
    Karatsori, Theano
    2017
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Bimodal Gate Oxide Breakdown in Sub-100 nm CMOS Technology
    Rezaee, Leila
    2008
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Bimodal Gate Oxide Breakdown in Sub-100 nm CMOS Technology
    Rezaee, Leila
    2008
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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