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    Study Of Nanoscale Cmos Device And Circuit Reliability
    Yu, Chuanzhao
    2006
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
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    A Study of Group III Elements (La, Gd, Eu, and Al) Incorporation on Metal Gate / High–k Stacks for Advanced CMOS Applications
    Lee, Bongmook
    2010
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
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    CMOS Reliability Characterization Techniques and Spintronics-Based Mixed-Signal Circuits
    Choi, Won Ho
    2015
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    0.18?m high performance CMOS process optimization
    Gurcan, Zeki
    2005
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
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    Breakdown and Reliability of CMOS Devices with Stacked Oxide/Nitride and Oxynitride Gate Dielectrics Prepared by RPECVD
    Lee, Yi-Mu
    2003
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
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    Aging Analysis and Aging-Resistant Design for Low-Power Circuits
    Parthasarathy, Krupa
    2014
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
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    Impact of Inert-electrode on the Performance and Electro-thermal Reliability of ReRAM Memory Array
    Al-Mamun, Mohammad Shah
    2019
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Robust High Temperature Operation of Quantum Dot Lasers Grown on Silicon
    SHANG, CHEN
    2022
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
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    Circuit Techniques for Adaptive and Reliable High Performance Computing.
    Giridhar, Bharan
    2014
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Novel Material Integration for Reliable and Energy-Efficient NEM Relay Technology
    Chen, I-Ru
    2014
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Rf Power Amplifier And Oscillator Design For Reliability And Variability
    Chen, Shuyu
    2013
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Reconfigurable RRAM-based computing: A Case study for reliability enhancement
    Catanzaro, Matthew
    2012
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Study Of Oxide Breakdown, Hot Carrier And Nbti Effects On Mos Device And Circuit Reliability
    Liu, Yi
    2005
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Charge Trapping Characterization Methodology for the Evaluation of Hafnium-based Gate Dielectric Film Systems
    Young, Chadwin Delin
    2003
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Multi-Attribute Design for Authentication and Reliability (MADAR)
    Casto, Matthew James
    2018
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Low Power Reliable Design using Pulsed Latch Circuits
    Elsharkasy, Wael Mahmoud
    2017
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Power, Thermal, Reliability and Variability Management of Mobile Devices
    Mercati, Pietro
    2017
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Scalable methods for reliability analysis in digital circuits using physics-based device-level models
    Fang, Jianxin
    2012
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Variation-aware and aging-aware design tools and techniques for nanometer-scale integrated circuits
    Gupta, Saket
    2012
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Reliability of SRAMs and 3D TSV ICS: Design Protection from Soft Errors and 3D Thermal Modeling
    Shiyanovskii, Yuriy
    2012
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
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