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305 Treffer

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    Nanoscale characterization and simulation of advanced CMOS and emerging devices variability
    Ruiz Flores, Ana
    2022
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    View record in TDX (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    65nm CMOS 기술에서 소자 종류에 따른 신뢰성 특성 분석 / Analysis of Reliability for Different Device Type in 65nm CMOS Technology
    김창수 / Chang Su KIM
    2015
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Advanced characterization methodologies of the time dependent variability in CMOS technologies
    Pedreira Rincón, Gerard ; Martín Martínez, Javier ; et al.
    In: TDX (Tesis Doctorals en Xarxa, 2024
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Study on Plasma Process-Induced Damage in CMOS Devices / 플라즈마 공정에서 기인한 CMOS 소자의 열화 연구
    이정윤 / Lee, Jeong Yun
    2009
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Monitoring of temperature effects on CMOS memories
    Farjallah, Emna
    2018
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Etude de la fiabilité de type negative bias temperature instability (NBTI) et par porteurs chauds (HC) dans les filières CMOS 28nm et 14nm FDSOI
    Ndiaye, Cheikh
    2017
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Impact of Bias Temperature Instability and Random Telegraph Noise on CMOS Logic Circuits
    Matsumoto, Takashi
    2015
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    バイアス温度不安定性とランダムテレグラフノイズがCMOS論理回路特性に及ぼす影響
    松本, 高士
    2015
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Effect of wearout processes on the critical timing parameters and reliability of CMOS bistable circuits
    Das, A. G. Man Mohan
    1997
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    View record in EThOS (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    CMOS digital integrated circuit design faced to NBTI and other nanometric effects
    Dal Bem, Vinícius
    In: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS, 2010
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Degradation Models and Optimizations for CMOS Circuits
    Van Santen, Victor M. ; Henkel, Jörg ; et al.
    2023
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Aging aware design techniques and CMOS gate degradation estimative
    Butzen, Paulo Francisco
    In: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS, 2012
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Trade-offs between performance and reliability of sub 100-nm RF-CMOS technologies
    Arora, Rajan
    2012
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Highly efficient linear CMOS power amplifiers for wireless communications
    Jeon, Ham Hee
    2012
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Caractérisation et modélisation de la fiabilité des transistors et circuits millimétriques conçus en technologies BiCMOS et CMOS
    Ighilahriz, Salim
    2014
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Fiabilité des diélectriques low-k SiOCH poreux dans les interconnexions CMOS avancées
    Chery, Emmanuel
    2014
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    CMOS 180 nm Compact Modeling Including Ageing Laws for Harsh Environment ; Modèle compact CMOS 180 nm incluant les lois de vieillissement en environnement sévère
    Tran, Thi-Phuong-Yen ; Bordeaux ; et al.
    2022
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Predictive modeling of device and circuit reliability in highly scaled CMOS and SiGe BiCMOS technology
    Moen, Kurt Andrew
    2012
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Probabilistic CMOS (PCMOS) in the Nanoelectronics Regime
    Ayhan, Pinar
    2007
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Nanoscale characterization and simulation of advanced CMOS and emerging devices variability
    Ruiz Flores, Ana ; Porti i Pujal, Marc
    In: TDX (Tesis Doctorals en Xarxa, 2023
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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