Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
5 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

5 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Intermittent resistive faults in digital cmos circuits
    Kerkhoff, Hans G. ; brahimi, Hassan
    In: IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2015, 2015-04-24, S. 211-216
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    A study of graphene nanoribbon-based gate performance robustness under temperature variations
    Jiang, Y. ; Cucu Laurenciu, N. ; et al.
    In: NANO 2020 - 20th IEEE International Conference on Nanotechnology, Proceedings, 2020
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Enhancing Physical Unclonable Function Robustness Employing Embedded Instruments
    Pathrose Vareed, Jerrin ; Ali, Ghazanfar ; et al.
    In: 2018 IEEE Asia Pacific Conference on Circuits and Systems (APCCAS), 2019-01-10, S. 370-373
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    RRAM Variability and its Mitigation Schemes
    Pouyan, P. ; Amat, Esteve ; et al.
    In: 26th International Workshop on Power and Timing Modeling, Optimization and Simulation, PATMOS 2016, 2016
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Design of an Infrastructural IP Dependability Manager for a Dependable Reconfigurable Many-Core Processor
    Kerkhoff, Hans G. ; Zhang, Xiao
    In: Fifth IEEE International Symposium on Electronic Design, Test & Applications, DELTA 2010, 2010-01-13, S. 270-275
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -