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Publikation
- eccomas 96 symposium on modelling and simulation of microdevices and microsystems 2 Treffer
- 10th sasimi workshop, nara, japan, 2001 1 Treffer
- 3rd international workshop on electromagnetic compatibility of integrated circuits 1 Treffer
- international mixed signal testing workshop 1 Treffer
- therminic '02 1 Treffer
Sprache
13 Treffer
-
In: Therminic '02, Jg. 34 (2003), Heft 12, S. 1167-1174KonferenzZugriff:
-
In: Microelectronics journal, Jg. 33 (2002), Heft 5-6, S. 387-397academicJournalZugriff:
-
In: Microelectronics journal, Jg. 35 (2004), Heft 9, S. 783-788academicJournalZugriff:
-
In: ECCOMAS 96 Symposium on Modelling and Simulation of Microdevices and Microsystems, Jg. 29 (1998), Heft 11, S. 845-853KonferenzZugriff:
-
In: ECCOMAS 96 Symposium on Modelling and Simulation of Microdevices and Microsystems, Jg. 29 (1998), Heft 11, S. 817-820KonferenzZugriff:
-
In: Microelectronics journal, Jg. 30 (1999), Heft 2, S. 199-205academicJournalZugriff:
-
In: 3rd International Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits, Jg. 35 (2004), Heft 6, S. 509-523KonferenzZugriff:
-
In: 10th SASIMI workshop, Nara, Japan, 2001, Jg. 33 (2002), Heft 11, S. 1005-1009KonferenzZugriff:
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In: Microelectronics journal, Jg. 34 (2003), Heft 2, S. 133-148academicJournalZugriff:
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In: International mixed signal testing workshop, Jg. 33 (2002), Heft 10, S. 835-846KonferenzZugriff:
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In: Microelectronics journal, Jg. 26 (1995), Heft 1, S. 35-41academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics journal, Jg. 25 (1994), Heft 5, S. 353-361academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics journal, Jg. 25 (1994), Heft 3, S. 183-198academicJournalZugriff: