Zum Hauptinhalt springen

Suchergebnisse

UB Katalog
Ermittle Trefferzahl…

Artikel & mehr
50 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Verlag

Publikation

50 Treffer

Sortierung: 
  1. Surhonne, Anmol ; Maurer, Florian ; et al.
    In: 2023 IEEE 16th International Symposium on Embedded Multicore/Many-core Systems-on-Chip (MCSoC), 2023-12-18, S. 73-80
    Konferenz
  2. Li, Fuqiang ; Dong, Enzeng ; et al.
    In: 2021 China Automation Congress (CAC), 2021-10-22, S. 877-882
    Konferenz
  3. Pousia, S. ; Manjith, R.
    In: 2018 International Conference on Current Trends towards Converging Technologies (ICCTCT), 2018-03-01, S. 1-7
    Konferenz
  4. Li, Xue Mei ; Dai, Lin
    In: 2010 3rd International Congress on Image and Signal Processing, Jg. 6 (2010-10-01), S. 2624-2627
    Konferenz
  5. Erkhembaatar, Narantuya ; Bataa, Otgonbayar
    In: 2024 26th International Conference on Advanced Communications Technology (ICACT), 2024-02-04, S. 84-88
    Konferenz
  6. Vallet, B. ; Lembeye, Y. ; et al.
    In: Conference Record of the 2006 IEEE Industry Applications Conference Forty-First IAS Annual Meeting, Jg. 4 (2006-10-01), S. 1857
    Konferenz
  7. Wang, Yalei ; Guo, Haiyang ; et al.
    In: 2023 35th Chinese Control and Decision Conference (CCDC), 2023-05-20, S. 3416-3421
    Konferenz
  8. Laouamri, K. ; Crebier, J.C. ; et al.
    In: 2001 IEEE 32nd Annual Power Electronics Specialists Conference (IEEE Cat. No.01CH37230), Jg. 4 (2001), S. 1949-1954
    Konferenz
  9. Strydom, J.T. ; van Wyk, J.D. ; et al.
    In: Conference Record of the 1999 IEEE Industry Applications Conference. Thirty-Forth IAS Annual Meeting (Cat. No.99CH36370), Jg. 2 (1999), S. 1411-1417
    Konferenz
  10. Janse van Rensburg, P.A. ; van Wyk, J.D. ; et al.
    In: IAS '96. Conference Record of the 1996 IEEE Industry Applications Conference Thirty-First IAS Annual Meeting, Jg. 3 (1996), S. 1361-1368
    Konferenz
  11. De Jong, E.C.W. ; Ferreira, J.A. ; et al.
    In: Conference Record of the 2006 IEEE Industry Applications Conference Forty-First IAS Annual Meeting, Jg. 4 (2006-10-01), S. 1849
    Konferenz
  12. Tariq, Jannat ; Farhan, Mahmood ; et al.
    In: 2022 8th International Conference on Contemporary Information Technology and Mathematics (ICCITM), 2022-08-31, S. 290-293
    Konferenz
  13. Smit, M.C. ; Ferreira, J.A. ; et al.
    In: Proceedings of 1994 IEEE Industry Applications Society Annual Meeting, Jg. 2 (1994), S. 1233-1233
    Konferenz
  14. Haq, Shams Ul ; Sharma, Vijay Kumar
    In: 2021 5th International Conference on Electronics, Communication and Aerospace Technology (ICECA), 2021-12-02, S. 191-195
    Konferenz
  15. He, Yaqing ; Leung, Peter S W
    In: 2019 Joint International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Sapporo and Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC Sapporo/APEMC), 2019-06-01, S. 166-169
    Konferenz
  16. Motzigemba, Matthias ; Zech, Herwig ; et al.
    In: 2019 9th International Conference on Recent Advances in Space Technologies (RAST), 2019-06-01, S. 509-512
    Konferenz
  17. Wang, Pengfei ; Cao, Qixin ; et al.
    In: 2014 IEEE International Conference on Information and Automation (ICIA), 2014-07-01, S. 897-901
    Konferenz
  18. Wrona, Andrea ; Santis, Emanuele De ; et al.
    In: 2023 31st Mediterranean Conference on Control and Automation (MED), 2023-06-26, S. 493-499
    Konferenz
  19. Yang, Yuchao ; Fang, Ming ; et al.
    In: 2021 CIE International Conference on Radar (Radar), 2021-12-15, S. 2350-2355
    Konferenz
  20. Maurer, Florian ; Donyanavard, Bryan ; et al.
    In: 2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2020-03-01, S. 1562-1567
    Online Konferenz
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -