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  1. Tkachenko, P. ; Certad, N. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 10 (2022), S. 92673-92680
    Online academicJournal
  2. Emmerich, Maria ; Ebner, Philipp ; et al.
    In: 2024 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2024-03-25, S. 1-6
    Konferenz
  3. Farhadi, M. ; Feger, R. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 12 (2024), S. 31944-31959
    Online academicJournal
  4. Jimenez, Emilio ; Riquelme, Danilo ; et al.
    In: 2023 IEEE CHILEAN Conference on Electrical, Electronics Engineering, Information and Communication Technologies (CHILECON), 2023-12-05, S. 1-5
    Konferenz
  5. Schwinger, W. ; Graf, D. ; et al.
    In: 2023 18th Iberian Conference on Information Systems and Technologies (CISTI), 2023-06-20, S. 1-4
    Online Konferenz
  6. Proll, B. ; Schwinger, W. ; et al.
    In: 2023 18th Iberian Conference on Information Systems and Technologies (CISTI), 2023-06-20, S. 1-4
    Online Konferenz
  7. Pathuri-Bhuvana, Venkata
    In: 2022 30th European Signal Processing Conference (EUSIPCO), 2022-08-29, S. 2036-2040
    Konferenz
  8. Primus, Paul ; Widmer, Gerhard
    In: 2022 30th European Signal Processing Conference (EUSIPCO), 2022-08-29, S. 410-413
    Konferenz
  9. Hudeczek, R. ; Hager, E. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 10 (2022), S. 64388-64407
    Online academicJournal
  10. Eberlein, Matthias ; Pretl, Harald
    In: 2021 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT), 2021-04-19, S. 1-4
    Konferenz
  11. Schrangl, Patrick ; Giarre, Laura ; et al.
    In: 2019 IEEE Conference on Control Technology and Applications (CCTA), 2019-08-01, S. 523-528
    Konferenz
  12. Wally, Bernhard ; Vyskocil, Jiri ; et al.
    In: 2019 IEEE 17th International Conference on Industrial Informatics (INDIN), Jg. 1 (2019-07-01), S. 492-499
    Konferenz
  13. Poltschak, Florian ; Ebetshuber, Peter
    In: 2016 XXII International Conference on Electrical Machines (ICEM), 2016-09-01, S. 729-735
    Konferenz
  14. Schwarzgruber, T. ; Trogmann, H. ; et al.
    In: 2012 IEEE International Conference on Control Applications, 2012-10-01, S. 974-979
    Konferenz
  15. Zanardo, G. S. ; Passenbrunner, T. E. ; et al.
    In: 2012 IEEE International Symposium on Intelligent Control, 2012-10-01, S. 1178-1183
    Konferenz
  16. Langthaler, Peter ; del Re, L.
    In: 2007 American Control Conference, 2007-07-01, S. 4388
    Konferenz
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