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    Pupil engineering for a confocal reflectance line-scanning microscope
    Patel, Yogesh G. ; DiMarzio, Charles A. ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 2011-02-10
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Frequency characteristics of images measured on the VolumeScope scanning device
    Zaytsev, M. Y. ; Vasiliev, V. N.
    In: SPIE Proceedings, 2005-07-07
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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    MTF measurement technique for GOES imager
    Jay Alan Overbeck ; Shea, James J.
    In: Infrared Imaging Systems: Design, Analysis, Modeling, and Testing IX, 1998-08-26
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Performance Characteristics Of A Translate-Rotate Head Scanner With Xenon Detectors
    Olson, Arthur ; High, Maynard
    In: Application of Optical Instrumentation in Medicine VII, 1979-07-06
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Digital Fourier analysis method for measuring the optical MTF of an IR imaging scanner
    Feng, Zhuoxiang ; Jiao, Mingyin
    In: SPIE Proceedings, 2000-10-09
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    German MOMS-02 sensor: technical design and results of the STS-55/D2-mission
    Berger, Michael ; Kaufmann, Hermann
    In: Digital Photogrammetry and Remote Sensing '95, 1995-12-01
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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