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    Calibration Method for Vector Network Analyzers Using One or Two Known Reflection Standards
    Schrader, Thorsten ; Stumper, Ulrich
    In: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Jg. 63 (2014-06-01), S. 1648-1655
    Online unknown
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    CMOS circuit design for millimeter-wave applications
    Brewer, Forrest ; Shigematsu, H. ; et al.
    In: 2004 IEE Radio Frequency Integrated Circuits (RFIC) Systems. Digest of Papers, 2004-09-28
    Online unknown
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    Comments on 'Improved calibration and measurement of the scattering parameters of microwave integrated circuits' [with reply]
    Richardson, J.R. ; Pantoja, R.R. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Jg. 38 (1990-04-01), S. 453-454
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -