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849 Treffer

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    PVT variations aware low leakage INDEP approach for nanoscale CMOS circuits
    VIJAY KUMAR, SHARMA ; PATTANAIK, Manisha ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 54 (2014), Heft 1, S. 90-99
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    ISGP: Iterative sequential geometric programming for precise and robust CMOS analog circuit sizing
    KUNDU, Sudip ; MANDAL, Pradip
    In: Integration (Amsterdam), Jg. 47 (2014), Heft 4, S. 510-531
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Design of two Low-Power full adder cells using GDI structure and hybrid CMOS logic style
    FOROUTAN, Vahid ; MOHAMMAD REZA, TAHERI ; et al.
    In: Integration (Amsterdam), Jg. 47 (2014), Heft 1, S. 48-61
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    A defect-based compact modeling approach for the reliability of CMOS devices and integrated circuits
    ESQUEDA, Ivan S ; BARNABY, Hugh J
    In: Solid-state electronics, Jg. 91 (2014), S. 81-86
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Single chip integration of MWCNTs/SiO2 thin film humidity sensor based on standard CMOS IC process
    TUO, LI ; XIAOWEI, LIU ; et al.
    In: Micro/Nano Devices and Systems 2013: An open thematic journal issue, Jg. 119 (2014), S. 155-158
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Post-processing and performance analysis of BEOL integrated MEMS pressure sensor capacitors in 8-metal 130 nm CMOS
    ANANIAH DURAI, SUNDARARAJAN ; REZAUL HASAN, S. M
    In: Micro/Nano Devices and Systems 2013: An open thematic journal issue, Jg. 119 (2014), S. 89-94
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Monolithic z-axis CMOS MEMS accelerometer
    TSENG, Sheng-Hsiang ; WU, Po-Chang ; et al.
    In: Micro/Nano Devices and Systems 2013: An open thematic journal issue, Jg. 119 (2014), S. 178-182
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Silicon nanowires integrated with CMOS circuits for biosensing application
    JAYAKUMAR, G ; ASADOLLAHI, A ; et al.
    In: Solid-state electronics, Jg. 98 (2014), S. 26-31
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Proximity gettering of slow diffuser contaminants in CMOS image sensors
    RUSSO, F ; MOCCIA, G ; et al.
    In: Solid-state electronics, Jg. 91 (2014), S. 91-99
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Evolution of low frequency noise and noise variability through CMOS bulk technology nodes from 0.5 μm down to 20 nm
    IOANNIDIS, E. G ; HAENDLER, S ; et al.
    In: Solid-state electronics, Jg. 95 (2014), S. 28-31
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    A method of eliminating the signal-dependent random noise from the raw CMOS image sensor data based on Kalman filter
    YU, ZHANG ; GUANGYI, WANG ; et al.
    In: Signal processing, Jg. 104 (2014), S. 401-406
    academicJournal
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    MOSFET modeling for design of ultra-high performance infrared CMOS imagers working at cryogenic temperatures: Case of an analog/digital 0.18 μm CMOS process
    MARTIN, P ; ROYET, A. S ; et al.
    In: Solid-state electronics, Jg. 62 (2011), Heft 1, S. 115-122
    academicJournal
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Passivation issues in active pixel CMOS image sensors
    REGOLINI, J. L ; BENOIT, D ; et al.
    In: 14TH Workshop on dielectrics in microelectronics (WoDiM 2006), Jg. 47 (2007), Heft 4-5, S. 739-742
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Impact of high-permittivity dielectrics on speed performances and power consumption in double-gate-based CMOS circuits
    LOUSSIER, X ; MUNTEANU, D ; et al.
    In: SiO2, advanced dielectrics and related devices, Mondelo, Palermo, Italy, June 25-28, 2006, Jg. 353 (2007), Heft 5-7, S. 639-644
    Konferenz
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Implementation of plug-and-play ESD protection in 5.5 GHz 90 nm RF CMOS LNAs : Concepts, constraints and solutions
    THIJS, S ; NATARAJAN, M. I ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 46 (2006), Heft 5-6, S. 702-712
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    CMOS-MEMS switches based on back-end metal layers
    MUNOZ-GAMARRA, J. L ; VIDAL-ALVAREZ, G ; et al.
    In: Micro/Nano Devices and Systems 2013: An open thematic journal issue, Jg. 119 (2014), S. 127-130
    academicJournal
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    MASTAR VA: A predictive and flexible compact model for digital performances evaluation of CMOS technology with conventional CAD tools
    LACORD, Joris ; GHIBAUDO, Gérard ; et al.
    In: Solid-state electronics, Jg. 91 (2014), S. 137-146
    academicJournal
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Engineering buried oxide in dopant-segregated Schottky barrier SOI MOSFET for nanoscale CMOS circuits
    PATIL, Ganesh C ; QURESHI, S
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 53 (2013), Heft 3, S. 349-355
    academicJournal
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Design and simulation of hybrid CMOS―SET circuits
    JANA, Anindya ; BASANTA SINGH, N ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 53 (2013), Heft 4, S. 592-599
    academicJournal
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Characterization and modeling of low frequency noise in CMOS inverters
    IOANNIDIS, E. G ; HAENDLER, S ; et al.
    In: Solid-state electronics, Jg. 81 (2013), S. 151-156
    academicJournal
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