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    Röntgenspektroskopische Elementanalyse verschiedener Substrate unter CVD-Diamantschichten / X-Ray fluorescence analysis of CVD-diamond coated substrates in the scanning electron microscope
    HEIMANN, Burkhard ; DEUERLER, Friederike ; et al.
    In: Praktische Metallographie, Jg. 40 (2003), Heft 3, S. 130-138
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Gemeinschaftsversuch an einer beschichteten Wendeschneidplatte. Teil II: Die mehrlagige CVD-Beschichtung der Wendeschneidplatte / Group trial on a coated cutting insert. Part II: The multi-layer CVD-coating of the cutting insert
    KIESSLER, G ; ELSSNER, G ; et al.
    In: Praktische Metallographie, Jg. 36 (1999), Heft 11, S. 585-593
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Schichtdickenbestimmung aus Quer- und Schrägschliffen von Schichtsystemen durch Einleitung von Testkörpern und Referenzmassstäben / Determining the thickness of layers in cross and angled cross sections of coating systems using embedded test bodies and reference measures
    BECK, U ; REINERS, G ; et al.
    In: Praktische Metallographie, Jg. 32 (1995), Heft 8, S. 388-403
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -