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    Demonstration of a low-voltage three-transistor-per-pixel CMOS imager based on a pulse-width-modulation readout scheme employed with a one-transistor in-pixel comparator [6501-22] : Sensors, cameras, and systems for scientific/industrial applications VIII
    Shishido, S. ; Nagahata, I. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 6501 (2007), S. 65010N
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    A CMOS vision chip for a contrast-enhanced image using a logarithmic APS and a switch-selective resistive network [6501-34] : Sensors, cameras, and systems for scientific/industrial applications VIII
    Kong, J. S. ; Kim, S. H. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 6501 (2007), S. 650110-650110
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Highly sensitive and area-efficient CMOS image sensor using a PMOSFET-type photodetector with a built-in transfer gate [6501-35] : Sensors, cameras, and systems for scientific/industrial applications VIII
    Seo, S. H. ; Kim, K. D. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 6501 (2007), S. 650111-650111
    Konferenz
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    A diffractive multispectral image sensor with on- and off-die signal processing and on-die optics in 0.18-micron CMOS [6501-27] : Sensors, cameras, and systems for scientific/industrial applications VIII
    Thomas, C. ; Hornsey, R.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 6501 (2007), S. 65010S
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Characterization and system modeling of a 5-Mpixel CMOS array [6501-42] : Sensors, cameras, and systems for scientific/industrial applications VIII
    Cabanas-Holmen, K. ; Dorn, D. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 6501 (2007), S. 65010Q
    Konferenz
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    A temperature resistant wide dynamic range CMOS image sensor [6501-24] : Sensors, cameras, and systems for scientific/industrial applications VIII
    Mizobuchi, K. ; Adachi, S. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 6501 (2007), S. 65010P
    Konferenz
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    A 960-fps sub-sampling object extraction CMOS image sensor with 12-bit column parallel ADCs and ALUs [6501-23] : Sensors, cameras, and systems for scientific/industrial applications VIII
    Motohashi, Y. ; Kubo, T. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 6501 (2007), S. 65010O
    Konferenz
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    A digital high-dynamic-range CMOS image sensor with multi-integration and pixel readout request [6501-20] : Sensors, cameras, and systems for scientific/industrial applications VIII
    Guilvard, A. ; Segura, J. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 6501 (2007), S. 65010L
    Konferenz
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    Shared transistor architecture with diagonally connected pixels for a CMOS image sensor [6501-15] : Sensors, cameras, and systems for scientific/industrial applications VIII
    Kudoh, Y. ; Koga, F. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 6501 (2007), S. 65010G
    Konferenz
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