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492 Treffer

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    A Comparative Analysis of Text Embedding Models for Bug Report Semantic Similarity
    Patil, Avinash ; Han, Kihwan ; et al.
    In: 2024 11th International Conference on Signal Processing and Integrated Networks (SPIN), 2024-03-21, S. 262-267
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Enhancing Bug Localization through Bug Report Summarization
    Zhang, Xia ; Zhu, Ziye ; et al.
    In: 2023 IEEE International Conference on Data Mining (ICDM), 2023-12-01, S. 1541-1546
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Enhancing Bug Report Summaries Through Knowledge-Specific and Contrastive Learning Pre-Training
    Shao, Y. ; Xiang, B.
    In: IEEE Access, Jg. 12 (2024), S. 37653-37662
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    AttSum: A Deep Attention-Based Summarization Model for Bug Report Title Generation
    Ma, X. ; Keung, J.W. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 72 (2023-12-01), Heft 4, S. 1663-1677
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    FuzzyFlow: Leveraging Dataflow To Find and Squash Program Optimization Bugs
    Schaad, Philipp ; Schneider, Timo ; et al.
    In: SC23: International Conference for High Performance Computing, Networking, Storage and Analysis, 2023-11-11, S. 1-15
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Decomposing Source Codes by Program Slicing for Bug Localization
    Yong, Jian ; Zhu, Ziye ; et al.
    In: 2023 International Joint Conference on Neural Networks (IJCNN), 2023-06-18, S. 1-8
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    An Intelligent Duplicate Bug Report Detection Method Based on Technical Term Extraction
    Wu, Xiaoxue ; Shan, Wenjing ; et al.
    In: 2023 IEEE/ACM International Conference on Automation of Software Test (AST), 2023-05-01, S. 1-12
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Read It, Don't Watch It: Captioning Bug Recordings Automatically
    Feng, Sidong ; Xie, Mulong ; et al.
    In: 2023 IEEE/ACM 45th International Conference on Software Engineering (ICSE), 2023-05-01, S. 2349-2361
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Auto-labelling of Bug Report using Natural Language Processing
    Patil, Avinash ; Jadon, Aryan
    In: 2023 IEEE 8th International Conference for Convergence in Technology (I2CT), 2023-04-07, S. 1-7
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Duplicate Bug Report Detection Using an Attention-Based Neural Language Model
    Messaoud, M.B. ; Miladi, A. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 72 (2023-06-01), Heft 2, S. 846-858
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Large Language Models are Few-shot Testers: Exploring LLM-based General Bug Reproduction
    Kang, Sungmin ; Yoon, Juyeon ; et al.
    In: 2023 IEEE/ACM 45th International Conference on Software Engineering (ICSE), 2023-05-01, S. 2312-2323
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Multifaceted Hierarchical Report Identification for Non-Functional Bugs in Deep Learning Frameworks
    Long, Guoming ; Chen, Tao ; et al.
    In: 2022 29th Asia-Pacific Software Engineering Conference (APSEC), 2022-12-01, S. 289-298
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    CGMBL: Combining GAN and Method Name for Bug Localization
    Chen, Hao ; Yang, Haiyang ; et al.
    In: 2022 IEEE 22nd International Conference on Software Quality, Reliability and Security (QRS), 2022-12-01, S. 231-241
    Konferenz
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Is it a bug or a feature? Identifying software bugs using graph attention networks
    Kanakaris, Nikos ; Siachos, Ilias ; et al.
    In: 2022 IEEE 34th International Conference on Tools with Artificial Intelligence (ICTAI), 2022-10-01, S. 1425-1429
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    The Use of Pretrained Model for Matching App Reviews and Bug Reports
    Wang, Xiaojuan ; Zhang, Wenyu ; et al.
    In: 2022 IEEE 22nd International Conference on Software Quality, Reliability and Security (QRS), 2022-12-01, S. 242-251
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Learning from the Multi-Level Abstraction of the Control Flow Graph via Alternating Propagation for Bug Localization
    Ma, Yi-Fan ; Li, Ming
    In: 2022 IEEE International Conference on Data Mining (ICDM), 2022-11-01, S. 299-308
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Automatic Classification of Software Bug Reports Based on LDA and Word2Vec
    Tang, Yang ; Zhou, Hanqing ; et al.
    In: 2022 2nd International Conference on Computer Science, Electronic Information Engineering and Intelligent Control Technology (CEI), 2022-09-23, S. 491-495
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    A Software Aging-Related Bug Prediction Framework Based on Deep Learning and Weakly Supervised Oversampling
    Zhou, Yancai ; Zhang, Chen ; et al.
    In: 2022 IEEE International Symposium on Software Reliability Engineering Workshops (ISSREW), 2022-10-01, S. 185-192
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Improving Bug Localization With Effective Contrastive Learning Representation
    Luo, Z. ; Wang, W. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 11 (2023), S. 32523-32533
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Improving Bug Severity Prediction With Domain-Specific Representation Learning
    Wei, Y. ; Zhang, C. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 11 (2023), S. 62829-62839
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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