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    A 5T Half-SRAM Design for Cold CMOS Physical Unclonable Function Applications and Beyond
    Kanj, Rouwaida ; Kawa, Jamil
    In: 2024 25th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 2024-04-03, S. 1-8
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    A 0.4-V 8400-μm2 Voltage Reference in 65-nm CMOS Exploiting Well-Proximity Effect
    Che, C. ; Lei, K. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs, Jg. 70 (2023-10-01), Heft 10, S. 3822-3826
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Optimal Sizing of CMOS LC Voltage Controlled Oscillator by means of Genetic Algorithm
    Asmae, El Beqal ; Bachir, Benhala
    In: 2023 3rd International Conference on Innovative Research in Applied Science, Engineering and Technology (IRASET), 2023-05-18, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    A physics-based numerical modeling of total ionizing dose effects in CMOS integrated circuits
    Cassani, M.V. ; Salomone, L. Sambuco ; et al.
    In: 2023 Argentine Conference on Electronics (CAE), 2023-03-09, S. 41-45
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    The Modeling and Optimization of Line Width Roughness in Polysilicon Gate for Improving the Performance of CMOS Device
    Wang, Yaoting ; Kong, Mengshu ; et al.
    In: 2024 Conference of Science and Technology for Integrated Circuits (CSTIC), 2024-03-17, S. 1-3
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Low-Frequency Noise of 4H-SiC CMOS Technology for Analog ICs
    Masunaga, M.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 70 (2023-06-01), Heft 6, S. 3228-3233
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Packaged CMOS cryogenic characterization for quantum computing applications
    Imroze, Fiheon ; Nikbakhtnasrabadi, Fatemeh ; et al.
    In: 2022 29th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS), 2022-10-24, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Analysis and Compensation of Stress Effects on CMOS Reference Current Sources
    Zamboki, Andro ; Gocan, Leo ; et al.
    In: 2023 Austrochip Workshop on Microelectronics (Austrochip), 2023-09-20, S. 23-26
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Capacitance RF Characterization and Modeling of 28 FD-SOI CMOS Transistors down to Cryogenic Temperature
    Berlingard, Q. ; Lugo-Alvarez, J. ; et al.
    In: 2023 18th European Microwave Integrated Circuits Conference (EuMIC), 2023-09-18, S. 37-40
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Nanoscale CMOS Biasing Circuit for Analog Applications: The Impact of NBTI Degradation
    Vijay, Ashish ; Duari, Chusen ; et al.
    In: 2023 International Conference for Advancement in Technology (ICONAT), 2023-01-24, S. 1-3
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Design and Analysis of Two-stage CMOS LCD Buffer Operational Amplifier with Additional Load Capacitance
    Sultana, Neha ; Yashwant, Kadam ; et al.
    In: 2022 3rd International Conference on Electronics and Sustainable Communication Systems (ICESC), 2022-08-17, S. 221-224
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    An alternative radiation hardened by layout design in a CMOS technology
    Ortega, Carlos Alfredo Pelcastre ; Aranda, Monico Linares
    In: 2022 IEEE Latin American Electron Devices Conference (LAEDC), 2022-07-04, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    SiC MOSFET High Side Gate Driver Design Using HV CMOS Process
    Jose, Oliver Lexter July A. ; Kuo, Jui-Min ; et al.
    In: 2023 IEEE 66th International Midwest Symposium on Circuits and Systems (MWSCAS), 2023-08-06, S. 45-49
    Konferenz
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Analysis of the Endurance of CMOS IC Elements to Failures after Charged Particle Strike
    Smirnova, Vera P. ; Krupkina, Tatiana Y. ; et al.
    In: 2022 Conference of Russian Young Researchers in Electrical and Electronic Engineering (ElConRus), 2022-01-25, S. 447-450
    Konferenz
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    A Low-Power Maximally-Flat Transconductor in Subthreshold CMOS
    Fekih-Ahmed, Lazhar
    In: 2021 IEEE 2nd International Conference on Signal, Control and Communication (SCC), 2021-12-20, S. 150-154
    Konferenz
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    The Effect of MOS Transistor Body Connection on Sub-THz Fundamental Oscillator Performance Above 200 GHz in 65-nm CMOS
    Uluer, Utku ; Tokgoz, Korkut Kaan ; et al.
    In: 2021 13th International Conference on Electrical and Electronics Engineering (ELECO), 2021-11-25, S. 514-517
    Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    SPICE Modeling and CMOS Circuit Development of a SiC Power IC Technology
    Liu, Tianshi ; Zhang, Hua ; et al.
    In: 2021 IEEE International Midwest Symposium on Circuits and Systems (MWSCAS), 2021-08-09, S. 966-969
    Konferenz
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Circuit-level evaluation of a new zero-cost transistor in an embedded non-volatile memory CMOS technology
    Devoge, Paul ; Aziza, Hassen ; et al.
    In: 2021 16th International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS), 2021-06-28, S. 1-5
    Konferenz
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Estimation of MOSFET Channel Noise and Noise Performance of CMOS LNAs at Cryogenic Temperatures
    Chen, Xuesong ; Elgabra, Hazem ; et al.
    In: 2021 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2021-05-01, S. 1-5
    Konferenz
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Analysis of Si₃N₄ based n-FDSOI and p-FDSOI MOSFETS for CMOS Application
    Singh, Abhay Pratap ; Mishra, Vimal Kumar ; et al.
    In: 2022 8th International Conference on Signal Processing and Communication (ICSC), 2022-12-01, S. 578-581
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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