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  1. Oliveira, Walter Silva ; Junior, Marcus Henrique Victor ; et al.
    In: 2023 IEEE Seventh Ecuador Technical Chapters Meeting (ECTM), 2023-10-10, S. 1-6
    Konferenz
  2. Verma, Vinod Kumar ; Narayan Tripathi, Jai
    In: 2023 Joint Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility and International Conference on ElectroMagnetic Interference & Compatibility (APEMC/INCEMIC), 2023-05-23, S. 1-4
    Konferenz
  3. Khademevatan, Gholamreza ; Jalali, Ali
    In: 2022 Iranian International Conference on Microelectronics (IICM), 2022-12-20, S. 1-7
    Konferenz
  4. Gagliardi, F. ; Ria, A. ; et al.
    In: 2022 17th Conference on Ph.D Research in Microelectronics and Electronics (PRIME), 2022-06-12, S. 85-88
    Konferenz
  5. Privitera, Marco ; Ballo, Andrea ; et al.
    In: 2022 17th Conference on Ph.D Research in Microelectronics and Electronics (PRIME), 2022-06-12, S. 125-128
    Konferenz
  6. Yu, Xinyang ; Chen, Guowei ; et al.
    In: 2021 IEEE Asia Pacific Conference on Postgraduate Research in Microelectronics and Electronics (PrimeAsia), 2021-11-24, S. 9-12
    Konferenz
  7. Wang, Liang ; Han, Xupeng ; et al.
    In: 2017 17th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS), 2017-10-01, S. 1-4
    Konferenz
  8. Sutton, A.K. ; Zhou, Zhiping
    In: Proceedings of the Fourteenth Biennial University/Government/Industry Microelectronics Symposium (Cat. No.01CH37197), 2001, S. 179-185
    Konferenz
  9. Vandi, L. ; Andreani, P. ; et al.
    In: 2005 NORCHIP, 2005, S. 293-296
    Konferenz
  10. Zhu, Zhangming ; Liu, Lianxi ; et al.
    In: Proceedings of 2005 IEEE International Workshop on VLSI Design and Video Technology,, 2005, S. 6-9
    Konferenz
  11. Jiao, Chao ; Gao, Wei ; et al.
    In: 2005 6th International Conference on ASIC, Jg. 2 (2005), S. 1052-1055
    Konferenz
  12. Auricchio, C. ; Bez, R. ; et al.
    In: Proceedings of International Conference on Microelectronic Test Structures, 1996, S. 13-16
    Konferenz
  13. Nardi, A. ; Neviani, A. ; et al.
    In: IWSM. 1998 3rd International Workshop on Statistical Metrology (Cat. No.98EX113), 1998, S. 42-45
    Konferenz
  14. Healy, S. ; Horan, E. ; et al.
    In: ICMTS 1999. Proceedings of 1999 International Conference on Microelectronic Test Structures (Cat. No.99CH36307), 1999, S. 227-232
    Konferenz
  15. Tatinian, W. ; Pannier, P. ; et al.
    In: 2001 IEEE Radio Frequency Integrated Circuits (RFIC) Symposium (IEEE Cat. No.01CH37173), 2001, S. 279-282
    Konferenz
  16. Tatinian, W. ; Pannier, P. ; et al.
    In: 2001 IEEE MTT-S International Microwave Sympsoium Digest (Cat. No.01CH37157), Jg. 1 (2001), S. 583-586
    Konferenz
  17. Skotnicki, T.
    In: 30th European Solid-State Device Research Conference, 2000, S. 19-33
    Konferenz
  18. McCarthy, K.G. ; Saavedra Diaz, E.V. ; et al.
    In: ICMTS 1998. Proceedings of 1998 International Conference on Microelectronic Test Structures (Cat. No.98CH36157), 1998, S. 127-131
    Konferenz
  19. Kafrawy, Abdelrahman K. ; Soliman, Ahmed M.
    In: 2008 International Conference on Microelectronics, 2008-12-01, S. 31
    Konferenz
  20. Yu, Zhiping ; Sun, Lingling ; et al.
    In: 2008 11th IEEE International Conference on Communication Technology, 2008-11-01
    Konferenz
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
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