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    Chaotic Oscillations in a CMOS Inverter Coupled With ESD Protection Circuits Under Radio Wave Excitation
    MYUNGHWAN, PARK ; RODGERS, John C ; et al.
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 56 (2014), Heft 3, S. 530-538
    Online academicJournal
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    Susceptibility of CMOS Voltage Comparators to Radio Frequency Interference
    FIORI, Franco
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 54 (2012), Heft 2, S. 434-442
    Online academicJournal
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    Volltext
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    Study of Basic Effects of HPM Pulses in Digital CMOS Integrated Circuit Inputs
    HOLLOWAY, Michael A ; DILLI, Zeynep ; et al.
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 54 (2012), Heft 5, S. 1017-1027
    Online academicJournal
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    Increasing EMI Immunity in Novel Low-Voltage CMOS OpAmps
    RICHELLI, Anna
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 54 (2012), Heft 4, S. 947-950
    Online academicJournal
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    Transient-to-Digital Converter for System-Level Electrostatic Discharge Protection in CMOS ICs
    KER, Ming-Dou ; YEN, Cheng-Cheng
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 51 (2009), Heft 3, S. 620-630
    Online academicJournal
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    Volltext
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    Generic and Accurate Whitebox Behavioral Model for Fast Simulation of Analog Effects in Nanometer CMOS Digital Logic Circuits
    LOECKX, Johan ; GIELEN, Georges G. E
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 51 (2009), Heft 2, S. 351-357
    Online academicJournal
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    Volltext
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    On-Chip Transient Detection Circuit for System-Level ESD Protection in CMOS Integrated Circuits to Meet Electromagnetic Compatibility Regulation
    KER, Ming-Dou ; YEN, Cheng-Cheng ; et al.
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 50 (2008), Heft 1, S. 13-21
    Online academicJournal
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    CMOS OpAmp Resisting to Large Electromagnetic Interferences
    RICHELLI, Anna
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 52 (2010), Heft 4, S. 1062-1065
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Reduction of EMI susceptibility in CMOS bandgap reference circuits
    PRETELLI, Andrea ; RICHELLI, Anna ; et al.
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 48 (2006), Heft 4, S. 760-765
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Critical Upsets of CMOS Inverters in Static Operation Due to High-Power Microwave Interference
    KIM, Kyechong ; ILIADIS, Agis A
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 49 (2007), Heft 4, S. 876-885
    Online academicJournal
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    Volltext
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    Impact of microwave interference on dynamic operation and power dissipation of CMOS inverters
    KIM, Kyechong ; ILIADIS, Agis A
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 49 (2007), Heft 2, S. 329-338
    Online academicJournal
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    Volltext
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    Robust design of low EMI susceptibility CMOS opamp
    RICHELLI, Anna ; COLALONGO, Luigi ; et al.
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 46 (2004), Heft 2, S. 291-298
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Characterization and modeling of parasitic emission in deep submicron cmos
    VRIGNON, Bertrand ; DELMAS BENDHIA, Sonia ; et al.
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 47 (2005), Heft 2, S. 382-387
    Online academicJournal
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    Investigation on Robustness of CMOS Devices Against Cable Discharge Event (CDE) Under Different Layout Parameters in a Deep-Submicrometer CMOS Technology
    KER, Ming-Dou ; LAI, Tai-Hsiang
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 50 (2008), Heft 4, S. 810-821
    Online academicJournal
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    Evaluation on board-level noise filter networks to suppress transient-induced latchup in CMOS ICs under system-level ESD test
    KER, Ming-Dou ; HSU, Sheng-Fu
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 48 (2006), Heft 1, S. 161-171
    Online academicJournal
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    Volltext
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    Modeling and Analysis of Simultaneous Switching Noise Coupling for a CMOS Negative-Feedback Operational Amplifier in System-in-Package
    SHIM, Yujeong ; PARK, Jongbae ; et al.
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 51 (2009), Heft 3, S. 763-773
    Online academicJournal
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Prediction of high-power EMI effects in CMOS operational amplifiers
    FIORI, Franco L ; CROVETTI, Paolo S
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 48 (2006), Heft 1, S. 153-160
    Online academicJournal
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    On-chip sampling in CMOS integrated circuits
    DELMAS-BENDHIA, S ; CAIGNET, F ; et al.
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 41 (1999), Heft 4, S. 403-406
    Online academicJournal
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Characterization of crosstalk noise in submicron CMOS integrated circuits : An experimental view
    FOURNIOLS, J.-Y ; ROCA, M ; et al.
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 40 (1998), Heft 3, S. 271-280
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    Characterization of human metal ESD reference discharge event and correlation of generator parameters to failure levels. Part II: Correlation of generator parameters to failure levels
    KAI, WANG ; POMMERENKE, David ; et al.
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 46 (2004), Heft 4, S. 505-511
    Online academicJournal
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