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408 Treffer

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    Stimulated Brillouin scattering enhances CMOS chip for microwave signal processing.
    JOHNSON, SALLY COLE
    In: Laser Focus World, Jg. 60 (2024), Heft 1, S. 10-13
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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    A Review of Self-Heating Effects in Advanced CMOS Technologies.
    Prasad, C.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 66 (2019-11-01), Heft 11, S. 4546-4555
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    CMOS: How far can it go?
    Deleonibus, Simon ; Caillat, Christian ; et al.
    In: Solid State Technology, Jg. 43 (2000-03-01), Heft 3, S. S14- (4S.)
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Siehe Detailanzeige für Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    A Dual-Mode Large-Arrayed CMOS ISFET Sensor for Accurate and High-Throughput pH Sensing in Biomedical Diagnosis.
    Huang, Xiwei ; Yu, Hao ; et al.
    In: IEEE Transactions on Biomedical Engineering, Jg. 62 (2015-09-01), Heft 9, S. 2224-2233
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Scaling Challenges for Advanced CMOS Devices.
    Jacob, Ajey P. ; Xie, Ruilong ; et al.
    In: International Journal of High Speed Electronics & Systems, Jg. 26 (2017-03-01), Heft 1/2, S. -1- (76S.)
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    A Source Coupled Differential CMOS Complementary Colpitts Oscillator With On-Chip Transformer Tank.
    Cha, Choong-Yul
    In: IEEE Transactions on Microwave Theory & Techniques, Jg. 56 (2008-05-01), Heft 5, S. 1076-1082
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    An Ultra-Wideband Low Power-Consumption Low Noise-Figure High-Gain RF Power-Efficient DC-3.5-GHz CMOS Integrated Sampling Mixer Subsystem.
    Xu, Rui ; Nguyen, Cam
    In: IEEE Transactions on Microwave Theory & Techniques, Jg. 56 (2008-05-01), Heft 5, S. 1069-1075
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Radiation Effects on the Performance of CMOS Photodiode Array Detectors and the Role of Gain-Offset Corrections.
    Ho Kyung Kim ; Min Kook Cho ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 56 (2009-06-02), Heft 3, S. 1179-1183
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    A Comprehensive CMOS APS Crosstalk Study: Photoresponse Model, Technology, and Design Trends.
    Shcherback, Igor ; Danov, Tatiana ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 51 (2004-12-01), Heft 12, S. 2033-2041
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    A Low-Power Ultra-Wideband CMOS True RMS Power Detector.
    Zhou, Yijun ; Michael Yan-Wah Chia
    In: IEEE Transactions on Microwave Theory & Techniques, Jg. 56 (2008-05-01), Heft 5, S. 1052-1058
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    A 24-GHz Receiver Frontend With an LO Signal Generator in 0.18-μm CMOS.
    Chen, Yu-hsin ; Hsieh, Hsieh-Hung ; et al.
    In: IEEE Transactions on Microwave Theory & Techniques, Jg. 56 (2008-05-01), Heft 5, S. 1043-1051
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Hardness-by-Design Approach for 0.15 μm Fully Depleted CMOS/SOI Digital Logic Devices With Enhanced SEU/SET Immunity.
    Makihara, A. ; Midorikawa, M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 52 (2005-12-01), Heft 6, S. 2524-2530
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Effect of Gate Overlap and Source/Drain Doping Gradient on 10-nm CMOS Performance.
    Liu, Minjian ; Cai, Ming ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 53 (2006-12-01), Heft 12, S. 3146-3149
    Online academicJournal
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    Volltext
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Design and Fabrication of Deep Submicron CMOS Technology Compatible Suspended High-Q Spiral Inductors.
    Hsieh, Ming-Chun ; Fang, Yean-Kuen ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 51 (2004-03-01), Heft 3, S. 324-331
    Online academicJournal
    Zugriff:
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    A PUFs-based hardware authentication BLAKE algorithm in 65 nm CMOS.
    Zhang, Yuejun ; Wang, Pengjun ; et al.
    In: International Journal of Electronics, Jg. 103 (2016-06-01), Heft 6, S. 1056-1066
    academicJournal
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Investigation on Robustness of CMOS Devices Against Cable Discharge Event (CDE) Under Different Layout Parameters in a Deep-Submicrometer CMOS Technology.
    Ker, Ming-Dou ; Lai, Tai-Hsiang
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 50 (2008-11-01), Heft 4, S. 810-821
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Study of N-Channel MOSFETs With an Enclosed-Gate Layout in a 0.18 μm CMOS Technology.
    Chen, Li ; Gingrich, Douglas M.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 52 (2005-08-01), Heft 4, S. 861-867
    Online academicJournal
    Zugriff:
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Electromagnetically compatible CMOS auto-balanced current sensor for highly integrated power control System-On-Chip.
    Frick, V. ; Poure, P. ; et al.
    In: International Journal of Electronics, Jg. 94 (2007), Heft 1/2, S. 9-22
    academicJournal
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Optimizing CMOS technology for maximum performance.
    Frank, D. J. ; Haensch, W. ; et al.
    In: IBM Journal of Research & Development, Jg. 50 (2006-07-01), Heft 4/5, S. 419-431
    Online academicJournal
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    III-V MOSFETs for future CMOS transistor applications.
    Passlack, M. ; Droopad, R. ; et al.
    In: Solid State Technology, Jg. 51 (2008-12-01), Heft 12, S. 26-29
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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